DDR 和 LPDDR 內存一致性測試和調試

測試概述測試概述
開啟和驗證開啟和驗證
調整和預合規調整和預合規
規範測試規範測試
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WaveMaster 8000HD 示波器,帶 HDA125 邏輯分析儀一致性測試和調試 DDR 和 LPDDR 存儲器

從 DDR 啟動到 DDR 合規性測試的最快旅程

使用正確的工具快速測試雙倍數據速率 (DDR) 和低功耗 DDR (LPDDR) 設計的每個階段(從初始啟動到 JEDEC 合規性測試),加快最終產品的開發進程。

  • 從初始啟動到驗證,最大化 DDR 操作
  • 加速 DDR 預一致性測試和微調
  • 全面的 DDR 合規性測試

從初始啟動到驗證,最大限度地提高 DDR 運行效率

正確的示波器工具支持 DDR 和 LPDDR 電氣驗證、JEDEC 一致性測試以及通過多個設計階段的調試。 Teledyne LeCroy 減少了啟動時間並幫助您發現經常被忽視的錯誤。

WaveMaster 8000HD示波器和 Summit T516 分析儀連接到 CrossSync PHY 內插器以進行 PCIe 調試
Teledyne LeCroy DDR 虛擬探測去嵌入中介層和探針位置的框圖
消除中間總線反射和端接問題後的 Teledyne LeCroy DDR 眼圖
Teledyne LeCroy 示波器展示了大多數 DDR 和 LPDDR 命令地址信號的 DDR 總線解碼和触發

建立基本操作、信號檢查和驗證響應是電路板開啟期間的基礎。 這意味著要了解信號是否正確、信號是否正在通信、命令總線是否可運行、電壓和時序設置的誤差幅度是否正確、通道是否同時顯示讀和寫數據包。 這些早期步驟至關重要,需要專門為內存設計的這一階段構建的簡單、專用工具。 這不是合規,而是更多。

  • 來自 DRAM(讀)或控制器(寫)的信號看起來正確嗎?
  • 初始電壓和時序詳細信息是否位於正確的位置?
  • 命令總線通信是否正確?

最大限度地減少探頭和轉接器對設計的影響對於最大限度地提高示波器的 DDR 信號質量至關重要。 特萊丹·力科 DH 系列探棒 是低噪聲和低負載有源探頭,帶有焊接尖端和 QuickLink 適配器。 通過將測試點放置在靠近 DRAM 球的位置,內插器可以進一步增強信號質量。 然後,可以使用虛擬探針對探針和中介層組合進行去嵌入。

JEDEC 要求在 DRAM 球(BGA)或圖像中的測試位置 #1 處執行 DDR 測量。 如果您的探針位置當前位於#2(中介層)或#3(總線中間或 VIA),則可以在開始 DDR 驗證或測量之前虛擬移動探針位置。

  • 去嵌入 .2SP、.3SP 和 .6SP S 參數文件會考慮帶有中介層和立管的 T 點。
  • 虛擬探測可以將探測點移動到內存控制器以分析受壓力的讀數據包。
  • 消除由總線中間探針位置引起的問題

探測設置錯誤(例如反射)可能會與 DDR 設計質量相混淆。 Teledyne LeCroy 的 Virtual Probe @ Receiver 可用於消除反射,讓您更好地了解實際 DDR 設計性能。

  • 使用虛擬探針消除接收器端接問題 (VP@RCVR)。

Teledyne LeCroy 的 HDA125 邏輯分析儀以數字方式探測 DDR 命令地址,並為其他信號保留模擬示波器通道。 DDR 協議解碼和触發可用於這些數字探測信號,以隔離 DDR 活動和數據信號,從而加快調試速度。 HDA125 邏輯分析儀支持最高 8400 MT/s DDR5 CMD 地址線進行解碼和触發。

  • 僅限行業解碼和触發高達 DDR5
  • 解碼 JEDEC 的命令真值表
  • 執行更好的 R/W 分離,命令總線知道數據包位置
  • 在通道上疊加 R/W 視覺效果

加速 DDR 預一致性測試和微調

當電壓、時序和數據包參數在設計中調整到最大潛力時,DDR 內存操作穩定性就會得到優化。 特萊丹·力科 DDR 除錯工具 幫助您更好地了解 DDR 操作並改進您的 DDR 測試。

Teledyne LeCroy DDR 預合規性優化進度測試
Teledyne LeCroy DDR LPDDR 工具包具有多種場景視圖

多場景觀看

  • 佈局4種獨特的測試場景
  • 之前與之後的訊號比較
  • 去嵌入與原始
  • 讀寫選通時鐘比較
  • 測量比較
Teledyne LeCroy DDR LPDDR 眼圖和模板通過測試

眼圖、模板測試和 JEDEC 特定測量

  • 交互式用戶工具包
  • 眼圖和模板測試
  • JEDEC 或定制掩模
  • 掩模分析的“失敗”
  • DDR 特定測量
Teledyne LeCroy DDR LPDDR 使用命令地址提供最高的讀寫數據包分離

最高的讀/寫精度

  • 解碼命令地址
  • 準確了解 R & W 發生的位置
  • 可升級的外部邏輯分析儀
  • 最低電容負載
    (比競爭對手低 6 倍)
了解更多

全面的 DDR 一致性測試

自動化 DDR 合規性測試通過減少不一致性、根據 JEDEC 標准進行測試以及通過 DDR 調試工具包快速停止根本原因故障,實現更快的測試時間。

QPHY-DDR3(DDR3/3L/LPDDR3) QPHY-DDR4 (DDR4/LPDDR4/4X) QPHY-DDR5-系統
WaveMaster 8000HD 示波器執行 DDR5 一致性測試和調試
用於 DDR5 一致性測試的 Teledyne LeCroy QPHY 設定選單

減少不一致

  • 每次都相同的設置
  • 保存和調用配置
  • 接線圖
  • 在 Debug Toolkit 中分析故障
DDR DIMM 插入主板插槽以進行 JEDEC DDR 合規性測試

最新的 JEDEC 要求

JEDEC 的全自動化覆蓋。

  • 快速自動化測試覆蓋率
  • 完成 DRAM BGA 測試
  • 測量 CLK、DQS、DQ、CA 信號
Teledyne LeCroy QualiPHY (QPHY) 一致性測試保存了用於 DDR LPDDR 一致性測試的 PDF 報告

保存報告

快速保存您在測試和設計過程的各個階段的工作。

  • 通過或失敗測量結果
  • 保存 HTML 或 PDF 報告
  • 帶註釋的屏幕圖像

下載最新的 Teledyne LeCroy DDR 測試軟件

及時了解最新的 DDR 合規性和調試測試特性以及 MAUI 示波器軟件和 QPHY 合規性測試軟件升級的功能。

DDR 記憶體測試更新和補充

2024 年 7 月

  • 使用 CA5 指令行為 DDR4 新增了新的讀/寫分離演算法
  • 在 QualiPHY 一致性測試軟體中加入了更多針對 DDR5 的測量

其他最近的更新和添加

  • 提供新的軟體包選項 – 所有適用於 LPDDR2/ 的 QualiPHY 和調試工具包軟體選項3/4/4X 和 DDR2/3/4/5 提供一個可訂購零件號
  • 新增了 QualiPHY DDR5 系統級合規性測試
  • 新增了 LPDDR4X 支援和模板測試
  • 新增了 LPDDR4X 的 QualiPHY 合規性測試
  • 更新了三電平訊號的 LPDDR4/4X 讀/寫演算法
使用 CA5 命令列顯示 DDR4 讀/寫分離的 DDR 記憶體測試

推薦的示波器和探頭 DDR 測試設備

請參考下面的選項卡和鏈接,了解有關用於 DDR 測試的 Teledyne LeCroy 產品以及內插器或測試服務合作夥伴的更多信息。

資源中心

文檔名稱
DDR5 數據表

測試 DDR5 系統級設計的所有階段(在 BGA 處)。 本資料表概述了透過 QualiPHY 自動合規性測試實現早期開啟的工具。 執行 JEDEC 概述的調試和合規性測量。 了解所需設備和訂購資訊。

規格書
DDR4/LPDDR4/LPDDR4X 數據表

QualiPHY (QPHY-DDR4) 數據表為對內存設計感興趣的工程師概述了測試功能、訂購信息等。

規格書
DDR3/DDR3L/LPDDR3 數據表

QualiPHY (QPHY-DDR3) 數據表為對內存設計感興趣的工程師概述了測試功能、訂購信息等。

規格書
DDR 和 LPDDR 調試工具包數據表

DDR 調試支持 DDR 2/ 設計的所有階段3/4/5 和 LPDDR2/3/4/4X 並允許進行深入的故障排除。

規格書
DDR2 數據表

QualiPHY (QPHY-DDR2) 數據表為對內存設計感興趣的工程師概述了測試功能、訂購信息等。

規格書
LPDDR2 數據表

QualiPHY (QPHY-LPDDR2) 數據表為對存儲器設計感興趣的工程師概述了測試功能、訂購信息等。

規格書
 
DDR5內存測試與讀寫分離

成為 DDR 內存物理層測試的專家,以進行 DDR 調試、合規性和驗證

與Teledyne LeCroy 一起參加這個大師級網絡研討會系列,了解使用示波器進行DDR 測試的基礎知識,包括常見的測試準備和挑戰、一致性測試工具和調試測試工具之間的區別,以及提高DDR 驗證效率和應用正確方法的實用技巧和技術。調試工具。

全部註冊
第 1 部分 DDR 內存物理層測試基礎知識

在本次會議中,我們將概述 DDR 接口和測試挑戰。 將特別關注驗證和合規性測試要求之間的差異,並探討最佳有效性。

第 2 部分 超越 DDR 一致性測試 — 使用高級調試工具

在本次會議中,我們回顧最新的 DDR 測試要求,並提供解決測試挑戰的實用建議。 我們將提供有關如何測試最新 JEDEC 標準以及如何正確使用調試工具來克服測試和驗證挑戰的指導。

第 3 部分 更好的 DDR 探測和測試的重要技巧和技術

在本次會議中,我們將具體討論如何解決影響 DDR3/LPDDR3 和 DDR4/LPDDR4 測量能力的實際探測和連接問題。 我們將提供做什麼或不做什麼的示例,並將審查預合規測試清單。

第 4 部分 DDR 調試場景和虛擬探測

在本次會議中,我們使用真實的 DDR 調試示例和專門的連接示例來演示測試和調試 DDR3/LPDDR3 以及更高速的 DDR4/LPDDR4 信號所需的 DDR 眼圖的實用性。

DDR5使用說明書

QualiPHY (QPHY-DDR5-SYS) 說明手冊,逐步說明如何操作和測試 DDR5 標準。

DDR4/LPDDR4/LPDDR4X 使用說明書

QualiPHY (QPHY-DDR4) 說明手冊,分步說明如何操作和測試 DDR4、LPDDR4、LPDDR4X DRAM 標準。

DDR3/DDR3L/LPDDR3 使用說明書

QualiPHY (QPHY-DDR3) 說明手冊,分步說明如何操作和測試 DDR3、DDR3L、LPDDR3 DRAM 標準。

DDR 和 LPDDR 調試工具包使用手冊

DDR 調試支持所有 DDR 2/3/4/5 和 LPDDR2/3/4/4X/5 並允許解決棘手的問題。 本手冊可幫助您充分發揮該工具的潛力

DDR2使用說明書

QualiPHY (QPHY-DDR2) 說明手冊,提供有關如何操作和測試 DDR2 DRAM 標準的分步說明。

LPDDR2 使用說明書

QualiPHY (QPHY-LPDDR2) 說明手冊,提供有關如何操作和測試 LPDDR2 DRAM 標準的分步說明。