LPDDR 和 DDR 記憶體測試

WaveMaster 8000HD 示波器，帶 HDA125 邏輯分析儀一致性測試和調試 DDR 和 LPDDR 存儲器

從 DDR 啟動到 DDR 合規性測試的最快旅程

使用正確的工具快速測試雙倍數據速率 (DDR) 和低功耗 DDR (LPDDR) 設計的每個階段（從初始啟動到 JEDEC 合規性測試），加快最終產品的開發進程。

從初始啟動到驗證，最大化 DDR 操作
加速 DDR 預一致性測試和微調
全面的 DDR 合規性測試

DDR 測試可最大限度地提高 DDR 從初始啟動到驗證的運行效果

正確的示波器工具支持 DDR 和 LPDDR 電氣驗證、JEDEC 一致性測試以及通過多個設計階段的調試。 Teledyne LeCroy 減少了啟動時間並幫助您發現經常被忽視的錯誤。

WaveMaster 8000HD示波器和 Summit T516 分析儀連接到 CrossSync PHY 內插器以進行 PCIe 調試

消除中間匯流排反射和終止問題後的 Teledyne LeCroy DDR 眼圖。

Teledyne LeCroy 示波器顯示大多數 DDR 和 LPDDR 命令位址訊號的 DDR 總線解碼和觸發

專屬工具包

探測和中介層

虛擬探測

終止更正

解碼與觸發

建立基本操作、信號檢查和驗證響應是電路板開啟期間的基礎。這意味著要了解信號是否正確、信號是否正在通信、命令總線是否可運行、電壓和時序設置的誤差幅度是否正確、通道是否同時顯示讀和寫數據包。這些早期步驟至關重要，需要專門為內存設計的這一階段構建的簡單、專用工具。這不是合規，而是更多。

來自 DRAM（讀）或控制器（寫）的信號看起來正確嗎？
初始電壓和時序詳細信息是否位於正確的位置？
命令總線通信是否正確？

最大限度地減少探頭和轉接器對設計的影響對於最大限度地提高示波器的 DDR 信號質量至關重要。特萊丹·力科 DH 系列探棒是低噪聲和低負載有源探頭，帶有焊接尖端和 QuickLink 適配器。通過將測試點放置在靠近 DRAM 球的位置，內插器可以進一步增強信號質量。然後，可以使用虛擬探針對探針和中介層組合進行去嵌入。

查看教程 Teledyne LeCroy DH 系列差分探頭 查看教程 Nexus Technologies 中介層 查看教程 EyeKnowHow 插入器 閱讀部落格文章 改進 DDR 探測的技巧 閱讀部落格文章 使用中介層 Watch Webinar 更好的 DDR 探測和測試的主要技巧和技術 Watch Webinar DDR 除錯場景和虛擬探測

JEDEC 要求在 DRAM 球（BGA）或圖像中的測試位置 #1 處執行 DDR 測量。如果您的探針位置當前位於#2（中介層）或#3（總線中間或 VIA），則可以在開始 DDR 驗證或測量之前虛擬移動探針位置。

去嵌入 .2SP、.3SP 和 .6SP S 參數文件會考慮帶有中介層和立管的 T 點。
虛擬探測可以將探測點移動到內存控制器以分析受壓力的讀數據包。
消除由總線中間探針位置引起的問題
閱讀部落格文章虛擬探測教程

探測設置錯誤（例如反射）可能會與 DDR 設計質量相混淆。 Teledyne LeCroy 的 Virtual Probe @ Receiver 可用於消除反射，讓您更好地了解實際 DDR 設計性能。

使用虛擬探針消除接收器端接問題 (VP@RCVR)。

Teledyne LeCroy 的 HDA125 邏輯分析儀以數字方式探測 DDR 命令地址，並為其他信號保留模擬示波器通道。 DDR 協議解碼和触發可用於這些數字探測信號，以隔離 DDR 活動和數據信號，從而加快調試速度。 HDA125 邏輯分析儀支持最高 8400 MT/s DDR5 CMD 地址線進行解碼和触發。

僅限行業解碼和触發高達 DDR5
解碼 JEDEC 的命令真值表
執行更好的 R/W 分離，命令匯流排知道資料包位置
在通道上疊加 R/W 視覺效果

查看教程

加速 DDR 記憶體測試－從預合規測試到精細調整

當電壓、時序和封包參數在設計中充分發揮其潛力時，DDR 和 LPDDR 記憶體的運作穩定性就會得到最佳化。 Teledyne LeCroy 的 DDR 和 LPDDR 偵錯工具包幫助您更了解 LPDDR 和 DDR 操作並改進您的 LPDDR 和 DDR 記憶體測試。

DDR 偵錯工具包特性與功能

DDR 偵錯工具包為使用者提供了構建具有多個分析區域的逐案測試場景、在命令總線上執行解碼和觸發以及使用 JEDEC 特定眼圖、掩模測試和 DDR 特定測量深入優化設計階段的能力。

多場景觀看

佈局4種獨特的測試場景
之前與之後的訊號比較
去嵌入與原始
讀寫選通時鐘比較
測量比較

眼圖、模板測試和 JEDEC 特定測量

交互式用戶工具包
眼圖和模板測試
JEDEC 或定制掩模
掩模分析的“失敗”
LPDDR 和 DDR 特定測量

Teledyne LeCroy DDR LPDDR 使用命令地址提供最高的讀寫數據包分離

最高的讀/寫精度

解碼命令地址
準確了解 R & W 發生的位置
可升級的外部邏輯分析儀
最低電容負載（比競爭對手低 6 倍）

全面的 DDR 記憶體測試，滿足 JEDEC DDR 合規性和調試要求

LPDDR 和 DDR 一致性測試實現自動化，從而縮短測試時間並減少錯誤。使用共享測試設置，快速在 DDR 調試工具包根本原因故障分析和一致性測試之間切換。

在 DRAM 球上進行 JEDEC DDR 記憶體測試，以進行 DDR 一致性測試和 DDR 眼圖建立。

JEDEC DDR 一致性測試的全面自動化覆蓋

快速有效地執行合規性測試並完整報告結果。

透過一致的設定和可重複使用的配置實現自動化測試
驗證 DRAM 球的關鍵電氣和時序參數，產生眼圖
以 HTML 或 PDF 格式匯出結果，以便於分享和分析
QPHY2-DDR5-系統
QPHY2-LPDDR5
QPHY-DDR3（DDR3/3L/LPDDR3）
QPHY-DDR4 (DDR4/LPDDR4/4X)

DDR 測試需要 DDR 一致性測試和 DDR PHY 偵錯，兩種不同的 DDR 測試模式之間共用設定細節。

從一致性測試快速過渡到 DDR 調試工具包設置

DDR 調試工具包為整個 DDR 設計週期提供測試、調試和分析工具。

在 DDR 偵錯工具包中配置所有必要的 DDR 測試設定參數
快速確定優化的測試設置，以獲得最佳的 DDR 訊號保真度
將 DDR 偵錯工具包測試設定複製到 QualiPHY 2 一致性測試選項並節省設定時間
觀看影片

使用 QualiPHY 2 在極短的時間內完成驗證和合規性

最直觀、高效的合規性測試，透過離線分析提高生產力。

簡化的測試介面－易於理解和操作
隨時隨地按時遵守規定－在實驗室內或離線（實驗室外）
從 DDR 調試工具包共享測試設置

查看教程

下載最新的 Teledyne LeCroy DDR 測試軟件

隨時了解 MAUI 示波器軟體和 QualiPHY 一致性測試軟體升級的最新 DDR 一致性和偵錯測試特性和功能。

DDR 記憶體測試更新和補充

2025 年 5 月

增加了對 LPDDR5/5X 訊號的支持，速度高達 8533 MT/s

2025 年 8 月

在 QualiPHY 5 框架中新增了 LPDDR5 和 LPDDR2X 合規性測試支持
QualiPHY 5 框架現已支援 DDR2 合規性測試

其他最近的更新和添加

在 QualiPHY 一致性測試軟體中加入了更多針對 DDR5 的測量
新增了 QualiPHY DDR5 系統級合規性測試
新增了 LPDDR4X 支援和模板測試
新增了 LPDDR4X 的 QualiPHY 合規性測試
更新了三電平訊號的 LPDDR4/4X 讀/寫演算法

下載 MAUI 軟件
下載QPHY軟件

推薦用於 DDR 測試的 DDR 示波器、探頭和軟體

請參考下面的選項卡和鏈接，了解有關用於 DDR 測試的 Teledyne LeCroy 產品以及內插器或測試服務合作夥伴的更多信息。

Teledyne LeCroy 建議使用示波器、探頭、內插器和軟件進行 DDR 電氣驗證、一致性測試和調試

示波器

探頭及配件

中介層

軟體

資源中心

技術文件

影像素材

網路研討會

手冊

名稱
LPDDR5 數據表 QualiPHY 2 (QPHY2-LPDDR5) 資料表概述了測試功能、訂購資訊以及更多對記憶體設計感興趣的工程師的資訊。	規格書
DDR5 數據表測試 DDR5 系統級設計的所有階段（在 BGA 處）。本資料表概述了透過 QualiPHY 自動合規性測試實現早期開啟的工具。執行 JEDEC 概述的調試和合規性測量。了解所需設備和訂購資訊。	規格書
DDR4/LPDDR4/LPDDR4X 數據表 QualiPHY (QPHY-DDR4) 數據表為對內存設計感興趣的工程師概述了測試功能、訂購信息等。	規格書
DDR3/DDR3L/LPDDR3 數據表 QualiPHY (QPHY-DDR3) 數據表為對內存設計感興趣的工程師概述了測試功能、訂購信息等。	規格書
DDR2 數據表 QualiPHY (QPHY-DDR2) 數據表為對內存設計感興趣的工程師概述了測試功能、訂購信息等。	規格書
LPDDR2 數據表 QualiPHY (QPHY-LPDDR2) 數據表為對存儲器設計感興趣的工程師概述了測試功能、訂購信息等。	規格書
DDR 和 LPDDR 調試工具包數據表 LPDDR 和 DDR 偵錯支援 DDR 2/3/4/5 和 LPDDR2/3/4/4X/5/5X 並允許進行深度故障排除。	規格書

DDR5內存測試與讀寫分離

使用 LPDDR5-TOOLKIT 進行 LPDDR5 測試和調試

LPDDR5 電氣一致性測試概述 – QPHY2-LPDDR5

如何將 DDR 偵錯工具包設定複製到 QualiPHY 2

成為 DDR 記憶體物理層測試專家，進行 DDR 除錯、合規性和驗證

與Teledyne LeCroy 一起參加這個大師級網絡研討會系列，了解使用示波器進行DDR 測試的基礎知識，包括常見的測試準備和挑戰、一致性測試工具和調試測試工具之間的區別，以及提高DDR 驗證效率和應用正確方法的實用技巧和技術。調試工具。

全部註冊

第 1 部分：DDR 記憶體測試基礎知識

在本次網路研討會中，我們將全面介紹 DDR 介面以及測試過程中遇到的挑戰。我們將重點介紹如何區分驗證測試和合規性測試要求，以及如何準備 DDR 記憶體測試。

第 2 部分：DDR 探測的技巧與技術

本次網路研討會將詳細介紹如何解決實際應用中影響 DDR 測量能力的探測和連接問題。我們將提供一些範例，說明哪些操作可以做，哪些操作不能做，並回顧一份預合規測試清單。

第 3 部分：DDR 調試和虛擬探測

在本次網路研討會中，我們將提供使用除錯工具克服 DDR 測試挑戰的實用建議。主題包括實際的 DDR 調試範例，例如邏輯、焊接和電源問題、DDR 讀取/寫入分離、眼圖形成以及如何解決丟失的時鐘週期。我們還將討論 DDR 眼圖、多種場景下的抖動、基於硬體的讀寫分離以及虛擬探測技術。

第 4 部分：DDR5 記憶體測試的新功能

在本次網路研討會中，我們將詳細介紹 JEDEC DDR5 和 LPDDR5 規格和測試要求與先前版本的 DDR 有何不同，以及如何優化 DDR5 和 LPDDR5 記憶體測試。

名稱
DDR4/LPDDR4/LPDDR4X 使用說明書 QualiPHY (QPHY-DDR4) 說明手冊，分步說明如何操作和測試 DDR4、LPDDR4、LPDDR4X DRAM 標準。	產品手冊
DDR3/DDR3L/LPDDR3 使用說明書 QualiPHY（QPHY-DDR3）使用說明書，逐步指導如何操作和測試 DDR3、DDR3L、LPDDR3 DRAM 標準。	產品手冊
DDR 和 LPDDR 調試工具包使用手冊 DDR 調試支持所有 DDR 2/3/4/5 和 LPDDR2/3/4/4X/5 並允許解決棘手的問題。本手冊可幫助您充分發揮該工具的潛力	產品手冊
DDR2使用說明書 QualiPHY (QPHY-DDR2) 說明手冊，提供有關如何操作和測試 DDR2 DRAM 標準的分步說明。	產品手冊
LPDDR2 使用說明書 QualiPHY (QPHY-LPDDR2) 說明手冊，提供有關如何操作和測試 LPDDR2 DRAM 標準的分步說明。	產品手冊
QPHY2-DDR5-SYS 使用說明書 QualiPHY 2 (QPHY2-DDR5-SYS) 使用說明書，提供如何操作和測試 DDR5 標準的逐步說明。	產品手冊
QPHY2-LPDDR5 使用說明書 QualiPHY 2 (QPHY2-LPDDR5) 使用說明書，提供如何操作和測試 LPDDR5 標準的逐步說明。	產品手冊

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