QPHY-DDR2

• 支持測試 400 MHz、533 MHz、667 MHz、800 MHz、1066 MHz 和客製定義速度等級的 DDR2 信號
• 通過測量大量週期並報告統計結果，獲得對 DDR2 介面信心的最快方法
• 完整註釋的最壞情況測量屏幕截圖捕獲並顯示在報告中，包括跡線標籤和相關電壓振幅
• 停止測試/失敗功能允許用戶暫停特定測試並在示波器顯示屏上查看測量結果
• JESD79-2E 和 JESD208 JEDEC 規範和英特爾 DDR2 667/800 JEDEC 規範附錄修訂版 1.1 和英特爾 DDR2 400/ 533 JEDEC 規範附錄修訂版 1.0 中描述的測試的完整測試範圍

Teledyne LeCroy QPHY-DDR2 測試解決方案是驗證 DDR2 記憶體接口的最佳方式。 QPHY-DDR400 能夠在 533 MHz, 667 MHz, 800 MHz, 1066 MHz, 2 MHz 和客製定義速度等級上執行測量，具有 JEDEC 規範和英特爾 JEDEC 規範附錄規定的全套時脈、電氣和時序測試。

Teledyne LeCroy QualiPHY 平台提供易於配置的用戶界面，允許自定義測試和限制選擇，向用戶顯示連接圖以確保正確連接，並生成包含所有結果的報告，包括每個適用的最壞情況故障的屏幕截圖測試。 此外，QPHY-DDR2 測試的所有波形都可以保存，以便輕鬆共享資訊或稍後重新執行測試。

QPHY-DDR2 使用者能夠對其 DDR2 介面充滿信心。 由於 DDR2 測量的高度可變性，測量大量週期非常重要。 通過在非常短的時間內測量大量週期，用戶可以更加確信他們正在捕捉真正的最大值和最小值點以進行測量。

除了自動檢測 DDR2 信號外，QPHY-DDR2 還為示波器內部的 DDR2 信號提供強大的除錯功能。 使用示波器中的所有高級串列數據工具可以快速輕鬆地找到故障的根本原因。 其中包括：SDA II、Eye Doctor™ II、WaveScan™ 等等。

時脈測試——這些測試按照相應的 JEDEC 規範執行所有時脈測試。 這些包括平均時脈週期、絕對時脈週期、平均高/低脈衝寬度、絕對高/低脈衝寬度、半週期抖動、時脈週期抖動、週期到週期抖動和 n 個週期測試的累積誤差。

電氣測試——這些測試測量 DDR2 信號的電氣特性。 如上所示，SoutR 測試測量數據、選通和時脈信號的轉換率。 執行了 1000 多次轉換率測量，螢幕上顯示了最差的情況。 使用信號名稱註釋在營幕上易於閱讀。 此外，游標用於向使用者顯示測量轉換速率的電壓振幅。

時序測試——這些測試驗證特定 DDR2 事件之間的時序關係。 如上所示，tDQSCK 測試驗證clock信號的strobe輸出時間是否在相應 JEDEC 規範指定的限制內。 在此測試中，對所有 DDR read bursts執行了 5000 tDQSCK 測量，最差的範例顯示在螢幕上。

眼圖——眼圖是測試串行數據信號的強大工具。 QPHY-DDR2 使用戶能夠建立讀取和寫入數據的眼圖，以確保信號完整性足夠，以便接收器正確取樣數據。

QualiPHY 有許多預設的認證測試配置，但也允許用戶建立自己的配置和規範限制。

連接圖提示用戶進行必要的連接。

認證報告包含所有測試值、特定測試規範和螢幕截圖。 認證報告可以產生 HTML、PDF 或 XML格式。

QualiPHY 旨在減少在高速串行總線上執行認證測試所需的時間、精力和專業知識。

• 指導用戶完成每個測試設置
• 根據相關測試程序執行每項測量
• 將每個測量值與應用的規格限值進行比較
• 完整記錄所有結果
• QualiPHY 幫助用戶以正確的方式進行測試——每一次！

時脈測試
tCK(avg) – Average Clock Period
tCH(avg) – 平均高脈衝寬度
tCL(avg) – 平均低脈衝寬度
tCK (abs) – 絕對時鐘週期
tCH(abs) – 絕對高脈衝寬度
tCL(abs) – 絕對低脈衝寬度
tJIT(duty) – 半週期抖動
tJIT(per) – 時鐘週期抖動
tJIT(cc) – 循環週期抖動
tERR(n per) – 累積誤差

高級調試
讀週期數據和選通的眼圖
寫週期數據和選通的眼圖

電氣測試
SlewR – 輸入上升沿轉換率
SlewF——輸入下降沿轉換率
VIH(ac) – 交流輸入邏輯高電平
VIH(dc) – 直流輸入邏輯高電平
VIL(ac) – 交流輸入邏輯低電平
VIL(dc) – 直流輸入邏輯低電平
VSWING——輸入信號最大值
峰峰擺幅
SoutR – 輸出轉換率上升
SoutF——輸出轉換率下降
tSLMR – 輸出轉換率匹配比
交流過衝峰值幅度
VDDQ 以上的交流過衝區
交流下衝峰值振幅
VSSQ 以下的 AC 下衝區
VID(ac) – 交流差分輸入電壓
VIX(ac) – 交流差分輸入交叉點電壓
VOX(ac) – 交流差分輸出交叉點電壓

時序測試
tHZ(DQ) – 來自 CK/CK# 的 DQ 高阻抗時間
tLZ(DQ) – 來自 CK/CK# 的 DQ 低阻抗時間
tLZ(DQS) – 來自 CK/CK# 的 DQS 低阻抗時間
tHP – CK 半脈衝寬度
tQHS – DQ 保持偏斜因子
tQH – 來自 DQS 的 DQ/DQS 輸出保持時間
tDQSH – DQS 輸入高脈衝寬度
tDQSL – DQS 輸入低脈衝寬度
tDSS – DQS 下降沿到 CK 建立時間
tDSH – 來自 CK 的 DQS 下降沿保持時間
tWPRE——寫序言
tWPST——寫後序
tRPRE – 閱讀序言
tRPST – 閱讀後文
tDQSQ——DQS 和 DQ 之間的偏差
tDQSS – DQS 鎖存轉換到時鐘邊沿
tDQSCK——來自 CK/CK# 的 DQS 輸出訪問時間
tAC——來自 CK/CK# 的 DQ 輸出訪問時間
tDS(base) – DQ 和 DM 輸入建立時間
tDH(base) – DQ 和 DM 輸入保持時間
tIS(base) – 地址和控制輸入建立時間
tIH(base) – 地址和控制輸入保持時間
tDS1(base) – DQ 和 DM 輸入建立時間（單端選通）
tDH1(base) – DQ 和 DM 輸入保持時間（單端選通）