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QPHY-PCIe

Teledyne LeCroy QPHY-PCIe 測試解決方案為 Teledyne LeCroy 示波器提供自動控制,以執行Card Electro-mechanical 規範 Rev 1.1 和 2.0 中描述的整個發射器物理層測試

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產品特色
  • 符合Card Electro-mechanical 規範 Rev 1.1 和 2.0
  • 支持系統和add-in card測試
  • 將 SigTest 資料庫集成到示波器軟體中,可實現用於認證測試的精確算法的自動化
  • 連接圖顯示了如何正確使用 PCI-SIG CBB和CLB設置。
  • 能為 2.5Gb/s、5.0Gb/s 具有 3.5dB de-emphasis 和 5.0Gb/s具有 6.0dB de-emphasis 的測試結果 產生符合 CEM 規範的報告
  • 簡單易用的自動化測試

Teledyne LeCroy QPHY-PCIe 測試解決方案為 Teledyne LeCroy 示波器提供自動控制,以執行Card Electro-mechanical 規範 Rev 1.1 和 2.0 中描述的整個發射器物理層測試

規範描述了system boards和 add-in cards的測試要求。 QPHY-PCIe 能夠根據system boards和 add-in cards的規範執行認證測試。

將 SigTest 資料庫整合到示波器軟體中,如規範中描述 QPHY-PCIe 可以以完全相同的算法自動化執行所有必需的認證測試。

此外,QPHY-PCIe 可以運行所有 2.5GT/s 測試,然後是所有 5.0GT/s 和 3.5dB de-emphasis測試,最後是所有 5.0Gt/s 和 6.0dB de-emphasis測試. 這允許用戶為所有 3 個測試階段建立一份測試報告。

這些功能使 QPHY-PCIe 成為一個包羅萬象的自動化測試套件,可滿足 2.5GT/s 和 5.0GT/s PCI Express 發射器認證測試的要求。

整合 SigTest 資料庫

透過將 SigTest 資料庫整合到示波器軟體中,PCI-SIG 提供的精確算法用於計算結果。 這確保了與運行獨立的 SigTest 實用程序相同的準確答案,並具有能夠從示波器軟體中運行該實用程序的額外好處。

全面且易於閱讀的測試報告

測量結果通常需要匯總並製成表格以快速驗證規格。 此信息連同儀器和信號擷取/測試條件設定,形成完整的文字記錄檔。 QPHY-PCIe 也合併一個自動 HTML 報告生成引擎簡化了這個過程。 建立的測試報告包含每個單獨項目測試結果的表格數值,包括通過/失敗和規格限制列。 報告也可以保存為 PDF、HTML 或 XML。

進階除錯能力

如果發現合規性失敗,可以使用 Teledyne LeCroy 的 SDA II 串行數據分析包來幫助快速輕鬆地找到根本原因。 SDA II 能夠同時執行眼圖和抖動測量,並完全集成到示波器應用軟件中。 此外,憑藉 IsoBER、ISI Plot、Pj Inverse FFT 和多個抖動模型等專用功能,SDA II 提供了對測量的眼圖和抖動參數的深入了解,從而更容易識別問題的根源。

Eye Doctor II 分析軟體允許用戶在Continuous Time Linear Equalization (CTLE)、Feed Forward Equalization (FFE) 和/或Decision Feedback Equalization (DFE) 之後查看他們的信號。 這使用戶能夠看到使用EQ的實際接收器如何解釋他們的信號。

Teledyne LeCroy 的 SDA II 分析軟體包含時脈和數據信號的集成抖動和定時分析。 它允許分析大量示波器擷取記憶體的數據,並使用 X-Stream II 技術,SDA II 可以比其他解決方案快 50 倍的速度顯示眼圖和抖動分解結果。 此外,可從預載入 PLL 列表中選擇用於 PCI Express 的特定 PLL。 最後,SDA II 包含 2 種獨立的抖動分解方法; 業界spectral method和 NQ-scale method。 NQ-scale 對於正確區分存在串擾的系統中的隨機抖動和確定性抖動至關重要。

此外,該 Eye Doctor II 分析軟體還支持通道模擬。 對於 PCIe 測試,設計工程師將在發射器的輸出端執行串行數據測量。 然而,在參考串行數據通道的遠端進行分析對於除錯問題非常有用。要實現這一點,他們可以使用物理通道在通道之後進行測量,或者他們可以使用通道模擬來查看他們的串行數據信號看起來就像是通過通道傳輸的一樣。

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QPHY-PCIe 測試覆蓋率

2.5 GT/s 信號質量測試 平均單位間隔
最大單位間隔
最小單位間隔
交叉之間的最短時間
數據速率
每邊 RMS 抖動
平均中值到峰值抖動
最大中值到峰值抖動
最小中值到峰值抖動
平均峰峰值抖動
最大峰峰值抖動
最小峰峰值抖動
最小轉換(非轉換)眼電壓
最大轉換(非轉換)眼電壓
眼上方的最小轉換(非轉換)眼電壓餘量
眼下最大轉換(非轉換)眼電壓餘量
5.0 GT/s 信號質量測試 平均單位間隔
交叉之間的最短時間
數據速率
最大峰峰值抖動
BER 的總抖動為 10e-12
確定性抖動 Delta-Delta
隨機抖動 (RMS)
最小轉換(非轉換)眼電壓
最大轉換(非轉換)眼電壓
眼上方的最小轉換(非轉換)眼電壓餘量
眼下最小轉換(非轉換)眼電壓餘量
面具違規過渡(非過渡)眼睛
 
推薦的示波器(用於 5.0 GT/s 測試)
13–16 GHz,40 GS/s,4 通道,20 Mpts/Ch 串行數據分析儀,帶 15.3" WXGA 彩色顯示屏。50 Ω 和 1 MΩ 輸入*WaveMaster 813子、816子
20、25、30 GHz、80 GS/s、2 通道、40 Mpts/Ch 串行數據分析儀,帶 15.3" WXGA 彩色顯示屏。50 Ω 和 1 MΩ 輸入(16 GHz,40 GS/s,4 通道,20 Mpts/Ch)*WaveMaster 820Zi、825Zi、830Zi(也支持 SDA 和 DDA 8 Zi 示波器)
 
推薦的示波器(用於 2.5 GT/s 測試)
6 GHz, 20 GS/s, 4 通道, 10 Mpts/Ch(40 GS/s 和 20 Mpts/Ch 處於交錯模式),輸入為 50 Ω 和 1 MΩ*WavePro 760Zi(也支持 SDA 和 DDA 7 Zi 示波器)
 
所需設備無法從 Teledyne LeCroy 獲得
PCI-SIG 合規基板(僅用於 5.0GT/s 附加卡測試) CBB2
PCI-SIG 合規負載板(僅用於 5.0GT/s x4 或 x 8 通道系統測試)  x4/x8CLB2
PCI-SIG 合規負載板(僅用於 5.0GT/s x1 或 x 16 通道系統測試) x1/x16CLB2
PCI-SIG 合規基板(僅用於 2.5GT/s 附加卡測試) CBB1  
PCI-SIG 合規負載板(僅用於 2.5GT/s 系統測試)CLB1
CBB 或 CLB 上每個未使用的 SMA 連接器的 SMA 或 SMP 端接器