產品特色
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支持 10Base-T1S 和 10Base-T1L (IEEE 802.3cg)
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高度自動化且易於使用
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內置自動 S 參數校準
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自動將電纜反嵌到測試夾具
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生成帶有通過/失敗結果的報告
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支持所有 MDI S 參數測試
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MDI 回波損耗 (Sdd11)
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MDI 模式轉換損耗 (Sdc11)
自動化認證測試
QPHY-10Base-T1-TDR 根據 10Base-T1S 和 10Base-T1L 執行物理媒體附件 (PMA) 的 MDI S 參數一致性測試。 詳細的連接圖確保正確設置。 測試會話完成後,結果會自動編譯成包含屏幕截圖的綜合通過/未通過報告。
S 參數自動校準和電纜去嵌入
QPHY-10Base-T1-TDR 自動執行所需的參考平面校準,並自動去嵌入用於連接測試夾具的電纜。
MDI 回波損耗 (Sdd11) 簡化的合規性測試
回波損耗在介質相關接口 (MDI) 處測量,它是由於阻抗不匹配而反射的差分信號功率與差分入射信號(差分對差分)的功率之間的比率。 此外,還測量了差分特性阻抗,對於 10Base-T1S 和 10Base-T1L 兼容設備,理想情況下為 100ω。
MDI 模式轉換損耗 (Sdc11) 簡化的合規性測試
模式轉換損耗在 MDI 處測量,它是由於阻抗不匹配而反射的差分信號功率與 DUT 和單獨測試夾具。 此外,還測量了差模和共模特性阻抗,對於 10Base-T1S 和 10Base-T1L 兼容設備,理想情況下分別為 100ω 和 25ω。
可靠的測試夾具表徵
在測量 MDI S 參數和模式轉換損耗時,測試設置中佈線和測試夾具的阻抗平衡至關重要。 WavePulser 40iX 測量電纜和測試設備的阻抗曲線,以確保兩個信號 D+ 和 D- 的路徑相同,從而不會因電氣差異而產生模式轉換。 用於將 DUT MDI 連接到測試設備的測試夾具的精確表徵提供了信心,即與 MDI 要求相比,使用中的夾具具有足夠的模式轉換損耗裕度。