• JESD4-4D、JESD209-4-209A 中所述的 LPDDR4 和 LPDDR1X 測試涵蓋範圍
• 測試速度高達 4266 MT/s
• 自動執行 JEDEC 電氣要求合規性
• 測量重複性、一致性和準確性
• 儲存帶有註釋的螢幕截圖的通過/失敗報告
• 在專用調試工具包中分析合規性失敗

LPDDR4/4X 規格沿用 DDR4 的做法，將時脈抖動分解為隨機成分和確定性成分。時脈測試測量並比較平均時脈週期、絕對時脈週期、平均高/低脈衝寬度、絕對高/低脈衝寬度、最大週期抖動和週期間抖動、n 個週期內的累積誤差、轉換速率、差分和單端輸入電壓，以及過衝/欠衝的峰值和麵積。

眼圖測試對讀取/寫入突發訊號的 DQ 和 DQS（選通）眼圖進行測量。測試測量 JEDEC 規定的接收光罩與寫入突發訊號的眼圖之間的水平和垂直裕度，並傳回讀取突發訊號的測量結果。此外，也會測量接收掩模與指令位址訊號之間的裕度。

JEDEC 標準中定義的 LPDDR4/4X 差分和單端轉換速率測量寫入突發過程中每個上升沿和下降沿的轉換速率。電氣測試在單次採集過程中對所有寫入突發過程中的每次轉換進行轉換速率測量，從而在短時間內提供統計上精確的結果。其他測試包括 CA/DQ/DQS 訊號的過衝/欠衝峰值和麵積、DQS 差分和單端輸入電壓以及讀取突發轉換速率測量。

LPDDR4/4X 時序測試測量讀寫突發過程中資料訊號、選通訊號和時脈訊號之間的時序關係。此外，也會測試前導碼/後導碼時間和最小脈衝寬度。

自動化 DDR 合規性測試通過減少不一致性、根據 JEDEC 標准進行測試以及通過 DDR 調試工具包快速停止根本原因故障，實現更快的測試時間。

• 指導用戶完成每個測試設置
• 根據相關測試程序執行每項測量
• 將每個測量值與應用的規格限值進行比較
• 將所有結果完整記錄在已儲存的 PDF 中，並附有測量註釋
• QualiPHY 2 幫助使用者每次都以正確的方式進行測試！