高頻寬
獨特的多用途機種

WaveMaster 8 Zi-B 示波器是獨特的多用途機型，具有高速訊號分析和 DDR 測試所需的頻寬和工具。

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Teledyne LeCroy WaveMaster 8 Zi-B 示波器，具有 50 歐姆和 1 兆歐輸入，顯示兩個眼圖和串行數據抖動解卷積。
Teledyne LeCroy WaveMaster 8 Zi-B 示波器具有最強大的功能 - 50 歐姆和 1 兆歐姆輸入、寬探頭支持、混合信號採集以及低速串行觸發和解碼。

多用途

  • 提供最廣泛的探棒支援 , 50 Ω 和 1 MΩ 輸入均可
  • 混合信號採集能力
  • 全面的串列訊號觸發和解碼
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高速串行數據測試工具的標誌性代表 - QualiPHY 一致性測試自動化、DDR 和串行數據測試。

最適合串列數據和 DDR

  • 簡單而強大的合規性測試自動化
  • 互動式 DDR 除錯工具包
  • 最完整的眼圖、抖動和噪聲分析
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Teledyne LeCroy 的端到端鏈路信號完整性分析 WaveMaster 8 Zi-B 示波器使用 WavePulser 40iX 和其他工具。

分析鏈結

  • 從導入 S 參數文件 WavePulser 40iX
  • De-embed 裝置及通道模擬
  • 量測發射端及接收端的等化效果
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多用途

WaveMaster 8 Zi-B 示波器獨特地結合了高帶寬性能（高達 16 GHz）和通用功能，可實現最全面的驗證和調試功能。

Teledyne LeCroy WaveMaster 8 Zi-B示波器測試電路板，帶無源探頭、電流探頭、有源FET探頭、高帶寬差分探頭。

50Ω 1 MΩ 輸入，支持最廣泛的探棒

WaveMaster 是唯一一款還提供內置 1 MΩ 輸入的高帶寬示波器。 這允許直接連接無源探頭，並支持最廣泛的低壓、高壓和電流探頭，所有這些都不需要使用昂貴的附加外部適配器。

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混合信號採集，低速和高速

通過混合信號選項擴展您的採集範圍，用於最多 36 個通道和 500 MHz 數字時鐘速率的低速數字採集或最多 18 個通道和 6 Gb/s 數字時鐘速率的高速數字採集。

了解有關 MS500-36 的更多信息

探索有關 HDA125 的更多信息

綜合串行數據觸發器/解碼器

全面的低速串行數據觸發器和解碼器，加上測量/圖形和眼圖測試，提供低速事件的最佳因果分析。 輕鬆地將低速串行交互與高速串行數據或其他事件相關聯。

探索更多

最適合串列數據和 DDR

WaveMaster 8 Zi-B 是用於高速串行數據和存儲器一致性測試和調試的最佳示波器平台。

Teledyne LeCroy WaveMaster 8 Zi-B 示波器使用 HDA125 高速數字分析儀和 DH 系列 8-30 GHz 差分探頭在主板上執行串行數據和 DDR 測試。
Teledyne LeCroy QualiPHY 自動一致性測試主對話框。

QualiPHY 自動化合規性測試

  • 支持 PCI Express®、USB、HDMI™、DisplayPort™、乙太網、汽車乙太網、DDR 和許多其他串列數據標準
  • 全自動發射端和接收端測試以及接收端測試校準
  • 分步說明和自動報告生成
  • 自動通過/失敗測試報告

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SDA Expert 串行數據分析 NRZ 眼圖、抖動直方圖、抖動軌跡、抖動 FFT 以及隨機、確定性和總抖動測量

簡化的串行數據專業知識

  • 針對 PCI Express、USB、DisplayPort 等的客製化技術分析
  • 最完整的串列資料分析工具箱
  • 複雜測量的最高置信度

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DDR影像

從 DDR 啟動到一致性測試的最快旅程

  • 從初始啟動到驗證，最大化 DDR 操作
  • 加速 DDR 預一致性測試和微調
  • 全面的 DDR 合規性測試

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分析鏈結

結合 WavePulser 40iX 高速互連分析儀， WaveMaster 8 Zi-B 示波器和 SDA Expert 選項提供了最完整的訊號完整性分析工具包。

Teledyne LeCroy WaveMaster 8 Zi-B示波器搭配使用 WavePulser 40iX 用於串行數據鏈路分析的高速互連分析儀。
使用從 TP1 到 TP2 的夾具和測試電纜的去嵌入 WavePulser 40iX S 參數和 WaveMaster 8 Zi-B 工具集。

De-embed 裝置及測試電纜線

  • 從 LeCroy 導入 S 參數 WavePulser 40iX 或其他工具
  • 使用 Eye Doctor Virtual Probe 工具可輕鬆準確地消除治具和電纜的影響
  • 使用 SDA專家 的工具包在待測物的輸出引腳上藉由波形 de-embeded, 直接進行全眼圖、抖動和雜訊分析的去嵌入波形
使用 TP2 到 TP3 模擬真實世界的信道損耗 WavePulser 40iX S 參數和 WaveMaster 8 Zi-B 工具集。

模擬真實世界的通道損耗

  • WavePulser 40iX 簡化並加速測試通道損耗曲線的準確測量
  • 在信號路徑中的任意點採集波形，然後嵌入通道的效果
  • 同時比較多個測試點的眼圖、抖動和雜訊測量
通過在 TP1 處探測並在 TP3 處使用仿真來仿真發射機和接收機均衡 WavePulser 40iX S 參數和 WaveMaster 8 Zi-B 工具集。

模擬 Tx 和 Rx 訊號等化

  • SDA專家 使用 Eye Doctor 可以模擬所有常見的均衡類型，包括：
    發射端 emphasis
    接收端 FFE
    接收端 CTLE
    接收端 DFE

跨層 PCIe 測試

Teledyne LeCroy 的 PCI Express 電氣測試解決方案將卓越的儀器與先進的分析軟體相結合。

  • 簡化的 PCIe 連結測試
  • 對 PCIe 測試最有信心
  • 使用 SDA Expert 內建 PCIe 專業知識
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Teledyne LeCroy WaveMaster 8 Zi-B 示波器和 Anritsu MP1900A BERT，帶有連接到印刷電路板的 PCI Express 附加卡。
Teledyne LeCroy WaveMaster 8 Zi-B 示波器和 WavePulser 40iX 使用 Anritsu MP1900A BERT 和各種 USB 測試夾具。

USB 和 USB-C 電氣測試領先地位 - 從 PHY 到協議

完整的 PHY 和 PHY 邏輯層示波器解決方案 USB 3.2、USB 2.0、USB 供電、所有 USB Type-C®.

  • 用於 USB-C 測試的最佳示波器
  • 用於測量和表徵信號的內置 USB-C 測試專業知識
  • 透過跨層分析簡化 USB-C 連結測試
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