高速串行數據眼圖、抖動和噪聲分析

選擇類別
技術分析技術分析
PCIe、USB、顯示端口PCIe、USB、顯示端口
工具箱工具箱
分析鏈接分析鏈接
信心信心
競品對比競品對比
資源中心資源中心
SDA Expert串行數據分析眼圖、抖動直方圖、抖動頻譜以及抖動分解為總抖動、隨機抖動和確定性抖動

簡化的串行數據專業知識

SDA Expert串行數據分析軟件是第一個具有內置技術專業知識的眼圖和抖動分析軟件包。 它通過針對 PCI Express、USB、DisplayPort 等的定制技術分析，簡化了設置並擴展了調試功能。

  • PCI Express 定制技術分析®， USB， Thunderbolt™、顯示端口®， 和更多
  • 最完整的串行數據分析工具箱
  • 複雜測量的最高置信度

簡化的串行數據專業知識

第一個具有內建專業知識的串列資料軟體。 利用新技術框架簡化設定並擴展調試功能。

SDA Expert 串行數據分析軟件比較兩個眼圖 USB4 USB4 USB-Type-C 接口上的特定抖動測量

針對 PCI Express、USB、DisplayPort 等的定制技術分析

  • 內置特定技術的測量專業知識
  • 從合規性無縫過渡到調試
  • 直觀的測量選擇可節省時間並避免錯誤
了解更多
SDA Expert 串行數據分析 NRZ 眼圖、抖動直方圖、抖動軌跡、抖動 FFT 以及隨機、確定性和總抖動測量

最完整的串行數據分析工具箱

  • 第四代工具集涵蓋了 NRZ 和 PAM 信號的完整需求
  • 集成一切 – 抖動、噪聲、串擾、均衡和脈衝響應
  • 獨特的多視圖支持以及參考和比較模式
了解更多
SDA Expert 串行數據分析通過去嵌入通道並使用 CTLE、DFE 和 FFE 均衡器來比較四種眼圖和抖動場景

對複雜測量的最高信心

  • 一鍵設置可節省設置時間並避免錯誤
  • 技術選擇簡化了複雜測量的設置
  • 使用內置報告生成器快速記錄結果並保存數據
了解更多

針對 PCI Express、USB、DisplayPort 等的定制技術分析

SDA Expert 技術框架提供了每個技術所需的所有工具，以便在合規性測試之外輕鬆快速地進行除錯。

SDA Expert 串行數據分析軟件展示了 PCIe Gen6 技術框架示例
SDA Expert 內置專用調試和測量功能，在技術選擇菜單中顯示 USB
SDA Expert 內置了一系列標準測試點，例如 USB3.2, USB4, Thunderbolt、PCIe 和 DisplayPort，可輕鬆進行鏈路分析
SDA Expert串行數據分析軟件顯示 PCIe Gen6 信號的眼圖以及 PCIe Gen6 特定測量參數和階躍響應

技術架構

技術選項簡化

測試點

測量

使用 Teledyne LeCroy 的 SDA Expert 技術框架加快調試速度。 獲取您需要的所有調試分析，這些分析通常僅在合規性軟件包中提供。

  • 來自技術專家的技術設計
  • 易於設置且隨時可用
  • 針對外部合規性測試的調試進行了優化

只需選擇正在測試的技術，您就會看到特定於技術的測量結果，並按照技術標准文檔中的描述進行標記，並滿足標準的特定要求。

  • 帶有附加選項的預定義技術框架簡化了測量設置
  • 受益於內置的專業知識
  • 獲取您的應用程序所需的所有工具

SDA Expert串行數據分析提供了測量標準中定義的測試點所需的所有工具，即使這些測試點和/或通道實際上並不直接存在。

  • 通道和測試點設置的動態圖形可視化
  • 預定義的測試點簡化了設置並避免了錯誤
  • 內置嵌入/去嵌入和均衡

許多標準都有特定的測量參數和分析要求。 借助 SDA Expert 串行數據分析，您可以將所有這些功能集中在一個針對調試而優化的工具中。

  • 符合標準規範
  • 針對調試進行了優化
  • 簡單的測量選擇可節省時間並避免錯誤

技術框架 USB 3.2, USB4, Thunderbolt, PCI Express, 顯示端口

Teledyne LeCroy 將數十年的行業標準經驗融入到 SDA Expert 串行數據分析軟件中。 通過新技術框架將其提升到一個新的水平。

SDA Expert串行數據分析軟件顯示 USB3.2。 USB-C 型接口上測量的眼圖、抖動和眼圖參數
SDA Expert串行數據分析軟件顯示 USB4。 USB-C 型接口上測量的眼圖、抖動和眼圖參數
顯示 DisplayPort 的 SDA Expert 串行數據分析軟件。 USB-C 型接口上測量的眼圖、抖動和眼圖參數
SDA Expert PCIe 6.0 轉換直方圖，包括抖動細分，例如 Rj、udjdd、utj、dj 和 tj

USB3.2

USB4 & Thunderbolt

DisplayPort

PCI Express

只需按一下 SDA Expert 軟件中的按鈕即可訪問 DisplayPort CTS（一致性測試規範）中定義的 USB-C 技術特定測量。

  • 易於配置的測試點設置
  • 全面的眼圖、抖動和其他 USB-C PHY 測量
  • 簡單而強大的均衡分析
查看教程

USB-C 技術特定測量定義在 USB4 Thunderbolt 只需按一下 SDA Expert 軟件中的按鈕即可訪問 CTS（合規性測試規範）。

  • 易於配置的測試點設置
  • 全面的眼圖、抖動和其他 USB-C PHY 測量
  • 簡單而強大的均衡分析
查看教程

只需按一下 SDA Expert 軟件中的按鈕即可訪問 DisplayPort CTS（一致性測試規範）中定義的 USB-C 技術特定測量。

  • 易於配置的測試點設置
  • 全面的眼圖、抖動和其他 USB-C PHY 測量
  • 簡單而強大的均衡分析
查看教程

PCI Express 6.0 引入了 PAM4 特定的抖動測量方法，從而使 SDA Expert 成為表徵 PCIe 發射器的理想工具包

  • 將抖動測量組合分解為 48-UI 抖動測量模式中的 52 個轉換、12 個電壓電平轉換或單個聚合的抖動測量集
  • 48-UI 抖動測量模式中 52 個轉換中每個轉換的轉換直方圖
  • 52 個測量表結果中的每一個都被鎖定到其各自的轉換直方圖
查看教程

最完整的串行數據分析工具箱

SDA Expert 串行數據分析選項提供了任何高速串行數據 NRZ 或 PAM 眼圖、抖動或噪聲測量所需的所有工具。

SDA Expert NRZ 眼圖、抖動直方圖、抖動軌跡、抖動 FFT 和隨機、確定性抖動以及眼圖參數
SDA Expert 顯示 PAM4 信號的眼圖並測量 SNDR、RLM 以及抖動和眼圖參數
SDA Expert 將噪聲顯示為軌跡函數、直方圖和頻域，並測量、推斷和分解垂直噪聲
從 TP1 到 TP2 解嵌夾具和測試電纜，或使用 S 參數和 SDA Expert 模擬 TP3 處的通道
SDA 專家通過眼圖和抖動、嵌入和去嵌入通道以及使用 CTLE、DFE 和 FFE 均衡器來比較四種場景

NRZ

聚苯胺

噪聲/串擾

去嵌入/均衡

多視圖

SDA Expert 串行數據軟件選項提供最全面的 NRZ 抖動分解、眼圖和分析工具，以及用於仿真、去嵌入和均衡仿真的高級信號完整性工具

  • 第四代工具集涵蓋了 NRZ 信號的完整需求
  • 集成一切 – 抖動、噪聲、串擾、均衡和脈衝響應
  • 全面的抖動分解和分析

SDA Expert 串行數據分析軟件選項提供全面的 PAM3 和 PAM4 眼圖、抖動和噪聲測量，用於分析多級 PAM 信號每次眼圖張開的隨機、確定性和周期性損傷。

  • 最完整的 SNDR 和 RLM 分析
  • 強大的可視化工具，用於識別意外的噪聲和失真分量
  • 全面的抖動和噪聲擊穿能力

借助 SDA Expert 串行數據分析軟件，可以獲得一整套垂直噪聲測量和串擾分析工具，以進行完整的攻擊者/受害者分析。

  • 噪聲軌跡、直方圖和頻譜，提供對垂直噪聲的深入了解
  • LaneScape 比較模式可在多個通道上生成串擾眼
  • 創新的串擾眼輪廓圖顯示了過多噪聲的影響

借助 SDA Expert 串行數據分析軟件，快速表徵從發射器到接收器的整個信號路徑，在方便的測試點捕獲高保真波形，然後輕鬆分析任何感興趣點的信號

  • 去嵌夾具和測試電纜
  • 模擬現實世界的通道損耗
  • 模擬發射機和接收機均衡
了解更多

SDA Expert串行數據分析軟件的多個視圖和參考分析可快速識別差異並加速調試

  • 使用參考通道進行多場景測試
  • 同時測量多個通道
  • 多點、多配置分析

分析鏈結

快速表徵從發射器到接收器的整個信號路徑，在方便的測試點採集高保真波形，然後輕鬆分析任何感興趣點的信號。

使用從 TP1 到 TP2 的夾具和測試電纜的去嵌入 WavePulser 40iX S 參數和 SDA Expert 串行數據分析工具箱。
使用 TP2 到 TP3 模擬真實世界的信道損耗 WavePulser 40iX S 參數和 SDA Expert 串行數據分析工具箱。
通過在 TP1 處探測並在 TP3 處使用仿真來仿真發射機和接收機均衡 WavePulser 40iX SDA Expert串行數據分析工具集中的S參數
WavePulser 40iX 高速互連分析儀在串行數據通道上執行矢量網絡分析儀 (VNA) S 參數測量

去嵌入

模擬通道損耗

模擬均衡

測量 S 參數

串行數據測試夾具和電纜通常需要去嵌入，以進行準確的高速串行數據抖動和眼圖測量。 Teledyne LeCroy 的 SDA Expert Serial Data Analysis 的 SDAX-COMPLETE 版本內置了此功能。

  • 使用測量 S 參數模型 WavePulser 40iX，或從其他測量或模擬工具導入
  • 先進的 SDA Expert 工具可輕鬆準確地消除採集的示波器波形中的夾具和電纜的影響
  • 將完整的 SDA Expert Compete 工具包應用於去嵌入波形，直接在被測設備的輸出引腳上進行全眼圖、抖動和噪聲分析

進行眼圖和抖動測量時必須考慮高速串行數據通道的損耗。 Teledyne LeCroy 的 SDA Expert Serial Data Analysis 的 SDAX-COMPLETE 版本內置了此功能。

  • 通道模型 s 參數文件可以輕鬆地從 WavePulser 40iX 或在示波器的其他地方進入 SDA Expert
  • 採集信號路徑中任意點的波形，然後使用 VirtualProbe 乾淨地嵌入通道的效果
  • 使用 SDA Expert Complete 的完整分析功能同時比較多個測試點的眼圖、抖動和噪聲測量結果

高速串行數據發送器在輸出引腳上應用加重或去加重，以幫助補償通道損耗。 高速串行數據接收器應用均衡來考慮發送器預加重/去加重。 Teledyne LeCroy 的 SDA Expert Serial Data Analysis 的 SDAX-COMPLETE 版本具有內置功能，可以模擬串行數據發送器和接收器上的所有常見均衡設置，包括：

  • 發射機加重/去加重
  • 接收器FFE
  • 接收器CTLE
  • 接收器DFE

WavePulser 40iX 高速互連分析儀通過單次採集即可在頻域和時域中提供無與倫比的串行數據通道表徵洞察。

  • 測量 S 參數（如 VNA）
  • 測量阻抗曲線（如 TDR）
  • 結果的去嵌入、模擬、模擬和時間門控
  • 無需校準
  • 成本只是 VNA 價格的一小部分
查看教程

對複雜測量的最高信心

SDA 專家串行數據分析提供最高的置信度，同時經過簡化，簡單易用。

使用一個按鈕而不是使用複雜的嚮導來配置 SDA Expert 串行數據分析軟件，進行去嵌入和均衡
SDA Expert內置專用調試和測量功能，可通過技術選擇菜單輕鬆解決
SDA Expert 串行數據分析軟件具有內置報告功能，只需按一下按鈕即可保存設置、原始數據和報告，以便對 NRZ 和 PAM 信號進行各種抖動和串行數據分析
SDA Expert 串行數據分析軟件簡化的圖形用戶界面

一鍵設置

技術選擇變得簡單

內置報告生成器

流線型接口

相信 SDA Expert 串行數據分析軟件的專業知識並使用一鍵式操作，而不是與嚮導苦苦掙扎

  • 一鍵設置，無需複雜的嚮導
  • 優化以節省設置時間
  • 顯示最相關的抖動視圖和眼圖

受益於 SDA Expert 串行數據分析軟件的專業知識，只需點擊幾下即可開始分析。

  • 預定義技術框架簡化設置
  • 受益於內置的專業知識
  • 獲取您的應用程序所需的所有工具

借助 SDA Expert 串行數據分析軟件報告功能，只需按一下按鈕即可保存數據以供將來分析並生成綜合報告。

  • 同時保存數據、設置和創建報告
  • 稍後使用 MAUI Studio 在範圍內或離線分析存儲的數據
  • 創建包含所有相關設置以及信息豐富的屏幕截圖的報告。

通過帶有不言自明的圖標的優化簡化圖形用戶界面 (UI) 跟踪設置並節省時間。 通過狀態信息獲取有關丟失或不正確設置的有用信息。

  • 圖標使您可以輕鬆找到所需的功能
  • 簡化的圖形用戶界面有助於調整設置順序
  • 狀態欄提供有關丟失或不正確設置的信息

串行數據眼圖和抖動分析比較 – Teledyne LeCroy、Keysight、Tektronix

Teledyne LeCroy SDA Expert 具有獨特的技術特定功能，並且直觀且易於使用。 與是德科技和泰克串行數據眼圖和抖動分析軟件選項相比，後者需要購買多個選項才能獲得與 SDAX-COMPLETE 相同的功能。

NRZ
眼圖和眼測量
抖動測量、軌跡、直方圖、頻譜
脈衝響應和 Tx EQ

聚苯胺
眼圖和眼測量
抖動測量、跟踪、直方圖
脈衝響應、Tx EQ 和 SNDR

噪聲/串擾
噪聲測量、軌跡、直方圖、頻譜
串擾眼圖疊加

嵌入/去嵌入
嵌入/去嵌入
均等化

查看
多視圖
參考視圖

生產
圖形用戶界面
報告生成器
自動測試點設置

特定技術解決方案
PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB和 Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne LeCroy
SDAX-完整
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
（SDAX-USB4-待定）
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
是德科技
需要多個選項
---
---
---
---
---
---
---
---
---
---
---
---
---
---
---
泰克
需要多個選項
---
---
---
---
---
---
---
---
（PAMPPCIE6）
---
---
---
---

資源中心

技術文件
網路研討會
文檔名稱 文件類型  
SDA 專家數據表

規格書

 下載PDF
SDA專家軟體使用說明書 下載PDF

手動操作

 下載PDF
設定 SSCTrack 運算子以進行串列資料的擴頻時脈解調

本應用筆記概述如何設定 SSCTrack 數學運算子設定以執行串列資料波形的擴頻時脈解調。

應用筆記

 下載PDF

Jitter 大學網絡研討會系列

對抖動感到困惑嗎？ 有人對抖動的解釋是否產生了比答案更多的問題？ 如果是這樣，請加入 Teledyne LeCroy，我們將教授有關抖動的所有知識 - 什麼是抖動、不同類別、使用的儀器、測量和視圖、反捲積和外推等等。

全部註冊
第 1 部分 - 抖動簡介

在本次會議中，我們提供基本的抖動定義和類別，描述歷史上和當前用於測量抖動的儀器類型，以及抖動測量儀器的優點和缺點。

登記
第 2 部分 – 了解邊緣抖動

在本次會議中，我們將舉例說明使用由一個或兩個邊沿組成的採集來測量抖動的示例。 描述了各種測量技術及其歷史淵源。 還討論了儀器對抖動測量精度的影響。

登記
第 3 部分 – 從長遠角度看待抖動

在本次會議中，我們利用現代數字示波器來更快、更準確地進行更多抖動測量。 我們還將計算統計數據，查看數據集的直方圖，並查看抖動如何隨時間或頻率變化，以更好地了解潛在的抖動病理學。

登記
第 4 部分 – 實用抖動調試和測量示例

在本次會議中，我們將介紹抖動頻譜分析作為調試工具，並提供在示波器中使用統計和時域分析工具的其他實際示例，以揭示抖動問題的根本原因。

登記
第 5 部分 – 串行數據抖動測量的基礎知識

在本次會議中，我們提供基本的抖動定義和類別，描述歷史上和當前用於測量抖動的儀器類型，以及抖動測量儀器的優點和缺點。

登記
第 6 部分 – 串行數據抖動分離、外推和抖動視圖

在本次會議中，我們將描述給定誤碼率 (Tj@BER) 下的總抖動，以及如何使用外推模型從時間間隔誤差 (TIE) 測量中得出總抖動。 解釋了隨機抖動(Rj) 和確定性(Dj) 分離，並進一步將Dj 分離解釋為數據相關抖動(DDj)、佔空比失真(DCD)、碼間干擾(ISI)、有界不相關抖動( BUj) 和週期性抖動 (Pj)，並提供了示例。

登記
第 7 部分 – 串行數據抖動測量高級課程

在本次會議中，我們將更深入地研究各種測量和推斷的抖動視圖，並解釋用眼圖查看的串行數據鏈路裕度中的抖動的統計和時變視圖。

登記
如何使用示波器去嵌入和仿真串行數據鏈路

加入 Teledyne LeCroy，了解用於高速串行數據鏈路、互連以及通道和示波器探頭的各種示波器去嵌入和嵌入/仿真技術。 我們將討論高帶寬示波器中常用的各種類型的工具，例如使用 s 參數測量文件或電路模型的去嵌入和仿真。

登記
如何在頻域和時域中反嵌互連元件

加入 Teledyne LeCroy，我們將描述和演示從串行數據鏈路和其他信號完整性測量中去嵌入測試夾具、電纜和探針的最佳實踐。 這是一個至關重要的過程，可確保 DUT 的信號完整性測量不會受到互連元件的污染

登記
高速串行數據的信號完整性、抖動分析、探頭去嵌入

在本次網絡研討會中，我們將解釋如何調試高速串行數據信號完整性、均衡、抖動測量、嵌入和去嵌入互連和探頭。

登記
高速串行數據調試和分析

在本次研討會中，我們將解釋如何調試高速串行數據信號完整性、均衡、抖動測量、嵌入和去嵌入互連和探針。

登記
如何加速和改進 16+ Gb/s 串行數據發送器/接收器測試和調試

該網絡研討會將概述典型的高速串行數據發送器測試，使用 USB4 舉個例子。 我們將合成高速串行數據信號，使用實時示波器在虛擬接收器上分析信號，並將虛擬接收的信號與實時信號進行比較。 我們將審查信號完整性裕度分析和抖動、眼圖、IsoBER 輪廓和串擾眼圖測量

登記
表徵高速串行數據互連的基礎網絡研討會

加入 Teledyne LeCroy，詳細了解高速串行數據互連對電路設計的影響。 我們將討論 S 參數和阻抗曲線以及如何解釋它們，然後使用 S 參數文件對通過採樣通道的差分信號進行眼圖和抖動測量。

登記

需要協助或資訊？

請填寫此表格，讓我們知道您是否願意 註冊更新，是 與銷售人員聯繫, 或者想 預約產品介紹