高速串行數據眼圖、抖動和噪聲分析

選擇類別
技術分析技術分析
PCIe、USB、DisplayPortPCIe、USB、顯示端口
工具箱工具箱
分析鏈接分析鏈接
信心信心
競品對比競品對比
資源中心資源中心
SDA Expert串行數據分析眼圖、抖動直方圖、抖動頻譜以及抖動分解為總抖動、隨機抖動和確定性抖動

簡化的串行數據專業知識

SDA Expert 串列資料分析軟體是首款內建技術專長的眼圖與抖動分析軟體包。它簡化了設置，並透過針對 PCI Express、USB、DisplayPort 等技術的客製化分析，擴展了調試功能。

  • PCI Express 定制技術分析®， USB， Thunderbolt™，DisplayPort®， 和更多
  • 最完整的串行數據分析工具箱
  • 複雜測量的最高置信度

簡化的串行數據專業知識

首款內建專業科技的串列資料軟體。採用全新技術框架，簡化設定並擴展調試功能。

SDA Expert 串行數據分析軟件比較兩個眼圖 USB4 以及 USB4 USB-Type-C 接口上的特定抖動測量

針對 PCI Express、USB、DisplayPort 等技術的客製化技術分析

  • 內置特定技術的測量專業知識
  • 從合規性無縫過渡到調試
  • 直觀的測量選擇可節省時間並避免錯誤
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SDA Expert 串行數據分析 NRZ 眼圖、抖動直方圖、抖動軌跡、抖動 FFT 以及隨機、確定性和總抖動測量

最完整的串行數據分析工具箱

  • 第四代工具集完全滿足NRZ和PAM訊號的需求。
  • 整合了所有功能——抖動、雜訊、串擾、均衡和脈衝響應
  • 獨特的多視圖支持，具備參考和比較模式
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SDA Expert 串行數據分析通過去嵌入通道並使用 CTLE、DFE 和 FFE 均衡器來比較四種眼圖和抖動場景

對複雜測量的最高信心

  • 一鍵設置可節省設置時間並避免錯誤
  • 技術選擇簡化了複雜測量的設定。
  • 使用內建報表產生器快速記錄結果並儲存數據
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針對 PCI Express、USB、DisplayPort 等技術的客製化分析

SDA Expert 技術框架提供了每項技術所需的全部工具，以便在合規性測試之外輕鬆快速地進行偵錯。

SDA Expert 串行數據分析軟件展示了 PCIe Gen6 技術框架示例
SDA Expert 內置專用調試和測量功能，在技術選擇菜單中顯示 USB
SDA Expert 內置了一系列標準測試點，例如 USB3.2, USB4, Thunderbolt、PCIe 和 DisplayPort，可輕鬆進行鏈路分析
SDA Expert串行數據分析軟件顯示 PCIe Gen6 信號的眼圖以及 PCIe Gen6 特定測量參數和階躍響應

技術架構

技術選項簡化

測試點

測量

透過泰科電子的 SDA Expert 技術框架，加快調試速度。取得您所需的所有調試分析功能，這些功能通常僅在合規性軟體包中提供。

  • 來自技術專家的技術設計
  • 易於設置且隨時可用
  • 針對外部合規性測試的調試進行了優化

只需選擇正在測試的技術，即可獲得特定於該技術的測量結果，這些結果會按照技術標準文件中的描述進行標記，並滿足該標準的特定要求。

  • 預先定義的技術框架及附加選項簡化了測量設定。
  • 受益於內置的專業知識
  • 獲取您的應用程序所需的所有工具

SDA Expert 串列資料分析提供了測量標準中定義的測試點所需的所有工具，即使這些測試點和/或通道沒有直接的物理存在。

  • 通道和測試點設置的動態圖形可視化
  • 預定義的測試點簡化了設置並避免了錯誤
  • 內置嵌入/去嵌入和均衡

許多標準都有特定的測量參數和分析要求。 SDA Expert 串列資料分析工具將所有這些要求整合在一個針對偵錯最佳化的工具中。

  • 符合標準規範
  • 針對調試進行了優化
  • 簡單的測量選擇可節省時間並避免錯誤

技術框架 USB 3.2, USB4, ThunderboltPCI Express、DisplayPort、50G/100G 乙太網路

泰科電子已將其數十年的經驗與行業標準相結合，融入 SDA Expert 串行數據分析軟體中。借助全新的技術框架，將您的數據分析提升到一個新的水平。

SDA Expert串行數據分析軟件顯示 USB3.2。 USB-C 型接口上測量的眼圖、抖動和眼圖參數
SDA Expert串行數據分析軟件顯示 USB4。 USB-C 型接口上測量的眼圖、抖動和眼圖參數
顯示 DisplayPort 的 SDA Expert 串行數據分析軟件。 USB-C 型接口上測量的眼圖、抖動和眼圖參數
SDA Expert PCIe 6.0 轉換直方圖，包括抖動細分，例如 Rj、udjdd、utj、dj 和 tj
50G 乙太網路 PAM4 眼圖及符號間幹擾 (ISI) 圖

USB3.2

USB4 & Thunderbolt

DisplayPort

PCI Express

50G/100G 以太網

在 SDA Expert 軟體中，只需輕觸一個按鈕即可存取 DisplayPort CTS（一致性測試規格）中定義的 USB-C 技術特定測量值。

  • 易於配置的測試點設置
  • 全面的眼圖、抖動和其他 USB-C PHY 測量
  • 簡單而強大的均衡分析
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USB-C 技術特定測量定義在 USB4 以及 Thunderbolt 在 SDA Expert 軟體中，只需輕觸一個按鈕即可存取 CTS（合規性測試規格）。

  • 易於配置的測試點設置
  • 全面的眼圖、抖動和其他 USB-C PHY 測量
  • 簡單而強大的均衡分析
查看教程

在 SDA Expert 軟體中，只需輕觸一個按鈕即可存取 DisplayPort CTS（一致性測試規格）中定義的 USB-C 技術特定測量值。

  • 易於配置的測試點設置
  • 全面的眼圖、抖動和其他 USB-C PHY 測量
  • 簡單而強大的均衡分析
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PCI Express 6.0 引進了 PAM4 特有的抖動測量方法，因此 SDA Expert 成為表徵 PCIe 發送器的理想工具包。

  • 將抖動測量組成分解為 52-UI 抖動測量模式中的 48 個轉換、12 個電壓位準轉換或一組聚合的抖動測量值。
  • 52-UI抖動測量模式中48個轉換的轉換直方圖
  • 52 個測量表結果均與其各自的轉換直方圖鎖定。
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對 50G/100G 乙太網路電訊號進行基本特性分析

  • 眼圖和測量，例如眼高和眼寬
  • 發射機均衡 (TxEQ) 測量
  • 利用時脈資料恢復進行抖動測量
  • 訊號雜訊比和失真比 (SNDR) 以及電平失配比 (RLM) 測量
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最完整的串行數據分析工具箱

SDA Expert 串列資料分析選項提供了進行任何高速串列資料 NRZ 或 PAM 眼圖、抖動或雜訊測量所需的所有工具。

SDA Expert NRZ 眼圖、抖動直方圖、抖動軌跡、抖動 FFT 和隨機、確定性抖動以及眼圖參數
SDA Expert 顯示 PAM4 信號的眼圖並測量 SNDR、RLM 以及抖動和眼圖參數
SDA專家口罩測試展示
SDA Expert 將噪聲顯示為軌跡函數、直方圖和頻域，並測量、推斷和分解垂直噪聲
從 TP1 到 TP2 解嵌夾具和測試電纜，或使用 S 參數和 SDA Expert 模擬 TP3 處的通道
SDA 專家通過眼圖和抖動、嵌入和去嵌入通道以及使用 CTLE、DFE 和 FFE 均衡器來比較四種場景

NRZ

聚苯胺

口罩測試和PLL

噪聲/串擾

去嵌入/均衡

多視圖

SDA Expert 串列資料軟體選項提供最全面的NRZ抖動分解、眼圖和分析工具，以及用於仿真、去嵌入和均衡仿真的高階訊號完整性工具。

  • 第四代工具集涵蓋了 NRZ 信號的完整需求
  • 整合了所有功能——抖動、雜訊、串擾、均衡和脈衝響應
  • 全面的抖動分解和分析

SDA Expert 串列資料分析軟體選項提供全面的 PAM3 和 PAM4 眼圖、抖動和雜訊測量，用於分析多層次 PAM 訊號每次眼圖開啟時的隨機、確定性和週期性損傷。

  • 最完整的 SNDR 和 RLM 分析
  • 強大的視覺化工具，用於識別意外噪音和失真成分
  • 全面的抖動和噪聲擊穿能力

掩碼測試是分析NRZ訊號完整性的最簡單工具之一。 SDA Expert擁有龐大的遮罩及其對應PLL設定的整合資料庫，並允許使用者靈活地添加自訂定義。

  • 超過 100 個預先定義的標準，包含遮罩和 PLL 設定
  • 可輕鬆增強訂製口罩功能或添加新標準
  • 靈活的PLL設置，例如頻率、JTF或OJTF定義

使用 SDA Expert 串列資料分析軟體，您可以獲得一套完整的垂直雜訊測量和串擾分析工具，以進行完整的攻擊者/受害者分析。

  • 雜訊軌跡、直方圖和頻譜，提供了對垂直雜訊的深入了解
  • LaneScape 比較模式可在多個通道上生成串擾眼
  • 創新的串擾眼輪廓圖顯示了過量雜訊的影響

透過 SDA Expert 串列資料分析軟體，您可以快速表徵從發射機到接收器的整個訊號路徑，在便利的測試點擷取高保真波形，然後輕鬆分析任意感興趣點的訊號。

  • 去嵌夾具和測試電纜
  • 模擬現實世界的通道損耗
  • 模擬發射機和接收機均衡
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SDA Expert串列資料分析軟體的多種視圖和參考分析功能可快速識別差異並加快偵錯速度。

  • 使用參考通道進行多場景測試
  • 同時測量多個通道
  • 多點、多配置分析

分析鏈結

快速表徵從發射機到接收機的整個訊號路徑，在方便的測試點取得高保真波形，然後輕鬆分析任何感興趣點的訊號。

使用從 TP1 到 TP2 的夾具和測試電纜的去嵌入 WavePulser 40iX S 參數和 SDA Expert 串行數據分析工具箱。
使用 TP2 到 TP3 模擬真實世界的信道損耗 WavePulser 40iX S 參數和 SDA Expert 串行數據分析工具箱。
通過在 TP1 處探測並在 TP3 處使用仿真來仿真發射機和接收機均衡 WavePulser 40iX SDA Expert串行數據分析工具集中的S參數
WavePulser 40iX 高速互連分析儀在串行數據通道上執行矢量網絡分析儀 (VNA) S 參數測量

去嵌入

模擬通道損耗

模擬均衡

測量 S 參數

為了進行精確的高速串列資料抖動和眼圖測量，通常需要對串列資料測試夾具和電纜進行去嵌入處理。 Teledyne LeCroy 的 SDAX-COMPLETE 版本的 SDA Expert 串列資料分析軟體內建了此功能。

  • 使用測量 S 參數模型 WavePulser 40iX或從其他量測或模擬工具導入
  • SDA Expert 的先進工具能夠輕鬆準確地消除夾具和電纜對擷取到的示波器波形的影響。
  • 將完整的 SDA Expert Compete 工具包套用於去嵌入波形，即可直接在被測元件的輸出接腳上進行完整的眼圖、抖動和雜訊分析。

高速串列資料通道存在損耗，在進行眼圖和抖動測量時必須考慮這些損耗。泰萊克羅伊公司的SDAX-COMPLETE版本的SDA Expert串列資料分析軟體內建了此功能。

  • 通道模型 s 參數文件可以輕鬆地從 WavePulser 40iX 或在示波器的其他地方進入 SDA Expert
  • 採集信號路徑中任意點的波形，然後使用 VirtualProbe 乾淨地嵌入通道的效果
  • 利用 SDA Expert Complete 的全面分析功能，同時比較多個測試點的眼動、抖動和雜訊測量結果。

高速串列資料發送器會在輸出引腳上施加加重或去加重，以補償通道損耗。高速串列資料接收器會應用均衡來補償發送器的加重/去加重。 Teledyne LeCroy 的 SDAX-COMPLETE 版 SDA Expert 串列資料分析軟體內建了模擬串列資料傳送器和接收器上所有常見均衡設定的功能，包括：

  • 發射機加重/去加重
  • 接收器FFE
  • 接收器CTLE
  • 接收器DFE

WavePulser 40iX 高速互連分析儀只需一次擷取即可在頻域和時域中提供串列資料通道無與倫比的特性資訊。

  • 測量 S 參數（如 VNA）
  • 測量阻抗曲線（如 TDR）
  • 結果的去嵌入、模擬、模擬和時間門控
  • 無需校準
  • 成本只是 VNA 價格的一小部分
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對複雜測量的最高信心

SDA Expert 串列資料分析在提供最高置信度的同時，也兼顧了簡潔性和易用性。

使用一個按鈕而不是使用複雜的嚮導來配置 SDA Expert 串行數據分析軟件，進行去嵌入和均衡
SDA Expert內置專用調試和測量功能，可通過技術選擇菜單輕鬆解決
SDA Expert 串行數據分析軟件具有內置報告功能，只需按一下按鈕即可保存設置、原始數據和報告，以便對 NRZ 和 PAM 信號進行各種抖動和串行數據分析
SDA Expert 串行數據分析軟件簡化的圖形用戶界面

一鍵設置

技術選擇變得簡單

內置報告生成器

流線型接口

信賴SDA Expert串列資料分析軟體的專業技術，使用一鍵式操作，無需費力地使用精靈。

  • 一鍵設置，無需複雜的嚮導
  • 優化以節省設置時間
  • 顯示最相關的抖動視圖和眼圖

利用 SDA Expert 系列資料分析軟體的專業知識，只需點擊幾下即可開始分析。

  • 預定義技術框架簡化設置
  • 受益於內置的專業知識
  • 獲取您的應用程序所需的所有工具

SDA Expert 串列資料分析軟體的報告功能可儲存您的資料以供日後分析，並一鍵產生綜合報告。

  • 同時保存數據、設置和創建報告
  • 稍後使用 MAUI Studio 在工作範圍內或離線狀態下分析了儲存的資料。
  • 產生一份包含所有相關設定以及資訊豐富的螢幕截圖的報告。

透過優化的簡潔圖形使用者介面 (UI) 和清晰易懂的圖標，輕鬆管理設定並節省時間。透過狀態訊息，獲取有關缺失或錯誤設定的實用資訊。

  • 圖標使您可以輕鬆找到所需的功能
  • 簡化的圖形用戶界面有助於調整設置順序
  • 狀態欄提供有關丟失或不正確設置的信息

串列資料眼圖與抖動分析比較 – 泰科電子、是德科技、泰克科技

Teledyne LeCroy SDA Expert 擁有獨特的技術專用功能，直覺易用。相較之下，Keysight 和 Tektronix 的串列資料眼圖和抖動分析軟體需要購買多個元件才能獲得與 SDAX-COMPLETE 相同的功能。

NRZ
眼圖和眼測量
抖動測量、軌跡、直方圖、頻譜
脈衝響應和 Tx EQ

聚苯胺
眼圖和眼測量
抖動測量、跟踪、直方圖
脈衝響應、Tx EQ 和 SNDR

噪聲/串擾
噪聲測量、軌跡、直方圖、頻譜
串擾眼圖疊加

嵌入/去嵌入
嵌入/去嵌入
均等化

查看
多視圖
參考視圖

生產
圖形用戶界面
報告生成器
自動測試點設置

特定技術解決方案
PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB和 Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne LeCroy
SDAX-完整
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
（SDAX-USB4-待定）
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
是德科技
需要多個選項
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泰克
需要多個選項
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（PAMPPCIE6）
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資源中心

技術文件
網路研討會
文檔名稱 文件類型  
SDA 專家數據表

規格書

 下載PDF
SDA專家軟體使用說明書 下載PDF

手動操作

 下載PDF
設定 SSCTrack 運算子以進行串列資料的擴頻時脈解調

本應用說明概述如何配置 SSCTrack 數學運算子設置，以執行串列資料波形的擴頻時脈解調。

應用筆記

 下載PDF

Jitter 大學網絡研討會系列

對抖動感到困惑？別人對抖動的解釋是否讓你更疑惑？如果是這樣，那就加入泰萊克羅伊（Teledyne LeCroy）吧，我們將為你講解關於抖動的一切——抖動的定義、不同的類別、使用的儀器、測量和視圖、反捲積和外推等等。

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第一部 - 抖動簡介

在本課程中，我們將提供抖動的基本定義和類別，描述歷史上和目前用於測量抖動的儀器類型，以及抖動測量儀器的優點和缺點。

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第二部分－了解邊緣抖動

本節將透過實例示範如何使用由一個或兩個邊緣組成的採集資料來測量抖動。我們將介紹各種測量技術及其發展歷程，並探討儀器對抖動測量精度的影響。

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第三部分－從長遠角度看待抖動

在本次課程中，我們將利用現代數位示波器，更快、更準確地進行抖動測量。我們還將計算統計數據，查看數據集的直方圖，並觀察抖動如何隨時間或頻率變化，以便更好地理解潛在的抖動問題。

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第四部分 – 抖動除錯與測量實例

在本環節中，我們將介紹抖動頻譜分析作為偵錯工具，並提供其他使用示波器中的統計和時域分析工具來發現抖動問題根本原因的實際範例。

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第五部分－串列資料抖動測量的基礎知識

在本課程中，我們將提供抖動的基本定義和類別，描述歷史上和目前用於測量抖動的儀器類型，以及抖動測量儀器的優點和缺點。

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第六部分－串列資料抖動分離、外推和抖動視圖

本節將介紹給定誤碼率下的總抖動 (Tj@BER) 及其如何利用外推模型從時間間隔誤差 (TIE) 測量中導出。我們將解釋隨機抖動 (Rj) 和確定性抖動 (Dj) 的分離，並進一步闡述 Dj 分離為資料相關抖動 (DDj)、佔空比失真 (DCD)、碼間幹擾 (ISI)、有界非相關抖動 (BUj) 和週期性抖動 (Pj)，並提供範例。

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第七部分－串列資料抖動測量進階課程

在本環節中，我們將深入探討各種測量和外推的抖動視圖，並以眼圖的形式解釋串列資料鏈路裕量中抖動的統計視圖和時變視圖。

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如何使用示波器對串列資料鏈路進行解嵌與仿真

加入泰科電子（Teledyne LeCroy）的研討會，了解高速串列資料鏈路、互連線、通道和示波器探頭的各種示波器去嵌入和嵌入/模擬技術。我們將探討高頻寬示波器中常用的各種工具，例如使用S參數量測檔或電路模型進行去嵌入與模擬。

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如何在頻域和時域中解嵌互連元件

歡迎參加泰科電子（Teledyne LeCroy）的研討會，我們將介紹並示範如何從串行資料鏈路和其他訊號完整性測量中移除測試夾具、電纜和探頭的嵌入效應。這是確保被測設備（DUT）的訊號完整性測量不受互連元件污染的關鍵步驟。

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高速串列資料訊號完整性、抖動分析、探針去嵌入

本次網路研討會將講解如何調試高速串列資料訊號完整性、均衡、抖動測量、嵌入和解嵌入互連和探針。

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高速串列資料調試與分析

本次研討會將講解如何調試高速串列資料訊號完整性、均衡、抖動測量、嵌入和解嵌入互連和探針。

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如何加速和改進 16+ Gb/s 串行資料發送器/接收器的測試和調試

本次網路研討會將概述使用高速串列資料發送器進行的典型測試。 USB4 舉例來說，我們將合成一個高速串列資料訊號，使用即時示波器在虛擬接收器處分析該訊號，並將虛擬接收訊號與實際訊號進行比較。我們將回顧訊號完整性裕度分析和抖動、眼圖、等誤碼率 (IsoBER) 輪廓和串擾眼圖測量。

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高速串列資料互連特性分析基礎網路研討會

加入泰科電子（Teledyne LeCroy）的研討會，深入了解高速串列資料互連對電路設計的影響。我們將探討S參數和阻抗特性及其解讀方法，並使用S參數檔案對通過取樣通道的差分訊號進行眼圖和抖動測量。

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