序列數據

DDR3

Teledyne LeCroy QPHY-DDR3 測試解決方案是表徵 DDR3 內存接口的最佳方式。能夠對 800 MT/s、1066 MT/s、1333 MT/s、1600 MT/s、1866 MT/s、2133 MT/s 和自定義速度等級執行測量，QPHY-DDR3 具有全套時鐘、電氣和 JEDEC 規範指定的時序測試。

探索 DDR3

DDR Debug Toolkit DDR 偵錯工具包旨在在使用者準備一致性測試時加速早期啟動、驗證和預一致性階段的 DDR 設計工作。整合到 MAUI 範圍應用程式中，使用者可以建立具有多個分析區域的案例場景，在命令總線上執行解碼和觸發，並使用 JEDEC 特定眼圖、模板測試和 DDR 特定測量深入優化設計階段。

QPHY-DDR3 Teledyne LeCroy QPHY-DDR3 自動一致性測試軟體使工程師能夠一致地對 JEDEC 規範設定的 DDR3/3L 和 LPDDR3 記憶體標準進行測試。這包括時脈 (CK)、選通脈衝 (DQS)、資料 (DQ) 和命令位址匯流排訊號的電氣和時序測試要求的通過/失敗報告。與 DDR 偵錯工具包搭配使用，可提供自信地測試記憶體設計所有階段（從初始啟動到最終合規性測試）的工具。

產品特色

通過測量大量週期並報告統計相關結果，獲得對 DDR3 接口信心的最快方法
測量與完整標記最壞情況的螢幕截圖並顯示在報告中，包括軌跡線標籤和相關電壓位準
停止測試/失敗功能允許用戶暫停特定測試並在示波器顯示屏上查看測量結果
支持測試 800 MHz、1066 MHz、1333 MHz、1600 MHz 和自定義速度等級的 DDR3 信號
JESD79-3D JEDEC 規範所描述的測試覆蓋率

更多的測量週期在更短的時間內提供最高的可信度

由於 DDR3 測量的高度可變性，測量大量週期非常重要。透過在極短的時間內測量大量週期，用戶可以更加確信他們正在紀錄真正的最大值和最小值點進行測量。在許多情況下，QPHY-DDR3 將同時執行數千次測量，而競爭設備的執行次數不到 100 次。這使您可以在 QPHY-DDR3 的單次運行中實現統計相關性，而無需在很長一段時間內進行多次擷取。

進階除錯能力

使用 QPHY-DDR3 內置的“測試停止”功能，用戶可以在完成每個單獨的測試時暫停測試。 QPHY-DDR3會提示示波器保存面板文件，以保存示波器當前狀態。然後，用戶可以自由地執行任何特定測試的額外調試，以幫助分析根本原因。使用示波器中的所有高級串行數據工具可以快速輕鬆地找到故障的根本原因。其中包括：SDA II、Eye Doctor™ II、WaveScan™、直方圖、軌蹟等等 - 可以輕鬆地將異常與其他觀察到的行為相關聯。用戶完成特定測試的調試後，他們只需單擊 QPHY-DDR3 中的“確定”按鈕即可繼續運行所選測試的其餘部分。

時脈測試

這些測試按照相應的 JEDEC 規範執行所有時鐘測試。這些包括平均時鐘週期、絕對時鐘週期、平均高/低脈衝寬度、絕對高/低脈衝寬度、半週期抖動、時鐘週期抖動、週期到週期抖動和 n 個週期測試的累積誤差。

電氣測試

如上所示，SRQ 測試測量數據、選通和時鐘信號的轉換率。進行了 2 Mpt 採集，並識別了所有讀取突發。然後測量每個上升沿轉換率。在這種情況下，執行了超過 9000 次轉換率測量。如上所示，此測量的最差實例顯示在屏幕上。此外，“測試時停止”功能可用於對該測試進行進一步分析，以確定失敗的根本原因。

時序測試

如上所示，tDQSCK 測試驗證選通脈衝輸出來自時鐘信號的訪問時間。與電氣測試類似，進行了 2 Mpt 採集並識別了所有讀取突發。然後測量每個選通脈衝沿及其相關時鐘之間的時間。在這種情況下，執行了超過 10000 個 tDQSCK 測量。如上所示，此測量的最差實例顯示在屏幕上。可以使用一個額外的探頭來捕獲電路板上的單獨信號，以幫助進行故障分析。

眼圖

眼圖是調試串行數據信號的強大工具。 QPHY-DDR3 使用戶能夠創建讀取和寫入數據突發的眼圖，以確保信號完整性足夠，以便接收器正確採樣數據。此外，同時顯示數據信號和選通信號的眼圖，以確保正確的選通定時。

QualiPHY

QualiPHY 旨在減少在高速串行總線上執行相容性測試所需的時間、精力和專業知識。

指導用戶完成每個測試設置
根據相關測試程序執行每項測量
將每個測量值與應用的規格限值進行比較
完整記錄所有結果
QualiPHY 每次都能幫助用戶以正確的方式進行測試！