主題：

問題：

解決方案：

“E”型 SPARQ 單元包括一個包含互連 40GHz 機械開關的開關矩陣。 這些開關在 DUT 測量階段將 TDR 脈衝發生器/採樣器和 TDT 採樣器路由到端口對，並在測量序列的校準階段路由到內部 O、S、L、T 標準。 借助開關矩陣，無需斷開或重新連接單個適配器或電纜即可進行 OSLT 校準和 S 參數測量。 每個開關的每個位置的額定壽命為 2,000,000 次啟動或投擲，相當於約 600,000 次 4 端口測量。 開關的額定壽命基於插入損耗，而不是機械故障。

一個後續常見問題解答是“為什麼 SPARQ 不使用固態繼電器 (SSR)？” 原因是 SSR 是有源非線性設備，會扭曲通過它們的信號。 它們處於活動狀態的事實也使校準過程複雜化； 所有漂移的組件都應位於校準參考平面的後面，這在使用 SSR 時是不可能的。

附件：

（此處列出的所有支持文件都已經過掃描並且沒有病毒）