論文集

DesignCon 2012 高速設計中的去嵌入

測量被測設備 (DUT) 的 S 參數時遇到的一個常見問題是，將網絡分析儀校準到同軸測試電纜的末端相對容易，但很難將同軸測試端口直接連接到板級 DUT。

DesignCon 2013 - 生產環境中 PCB 跡線表徵的快速且廉價的方法

提供了一種在印刷電路板製造環境中利用雙端口結構和測量儀器對差動跡線進行損耗測量的快速且經濟高效的方法。 該方法是英特爾兩年前在 DesignCon 上提出的 SET2DIL 方法的替代方法。

用於 TDR 動態範圍改進的小波去噪

介紹了一種技術，用於消除時域反射 (TDR) 波形中存在的大量噪聲，以增加 TDR 波形和基於 TDR 的 S 參數測量的動態範圍。

DesignCon 2012 - 解決高損耗和串擾攻擊通道的 12 Gbps 互操作性的穩健方法

本文介紹了一種新的 12 Gbps 互操作性方法，它結合了一系列協調一致的病態通道、內部眼圖監控和外部 EQ 仿真工具，提供了對 EQ 優化策略的深入了解，該策略解決了特定通道的串擾噪聲、抖動和通道混合問題損失。 這也為背板設計人員提供了配置高損耗、串擾攻擊系統的能力。

DesignCon 2012 - 離散頻率 S 參數與連續頻率響應之間的關係

我們詳細探討了與參數相關的離散頻率響應與隱含的連續時間響應之間的關係。 這是在頻域和時域中完成的，以形成正確的洞察力並探索實時時域響應、時間混疊、因果關係、插值和離散頻率數據的重新採樣等問題。 利用獲得的洞察力，我們確定了充分採樣的條件以及無法完全消除這些副作用時不變的實際條件的副作用。 本文對於理解在線性仿真中直接應用 sparameters 所涉及的問題特別有用，例如示波器中虛擬探測應用程序中使用的那些問題。

DesignCon 2008：基於 S 參數測量的差分傳輸線模型的驗證方法