Teledyne LeCroy - 加速設計的測試解決方案

廣泛的測試解決方案

我們提供最廣泛的測試解決方案，以幫助設計、開發和部署設備和系統。無論您是需要測試設備的物理和電氣特性，還是需要查看設備之間傳輸的單個數據包，我們都能滿足您的需求。我們的測試設備、培訓和測試服務可幫助您製造更好、更安全、更可靠的產品。

大型信息顯示與高級波形分析相結合的強大組合

旨在生成、捕獲和分析高速通信流量，並幫助開發人員發現產品設計中的錯誤和缺陷。

為幫助您實現目標而量身定制的各種測試和培訓服務產品。

專為測試和驗證固態硬碟 (SSD) 和運算快速連結 (CXL) 記憶體裝置而設計，可協助產品開發人員發現和修復難以發現的錯誤。

通過涵蓋您所有測量需求的多種設備，幫助您滿足您的測試要求。

我們製造傳感器和測試設備，以幫助對新設計和已安裝系統進行故障排除和優化。

我們的產品採用專利校準邏輯、最新數據轉換器和 FPGA 技術來提供高采樣率和分辨率。

高達 65 GHz，始終為 12 位，320 GS/s 和高達 8 Gpts 的記憶體。沒有其他示波器能夠透過更獨特的工具支援更多的工程任務。

測試基於高速 PCI Express 6.x 和 CXL 3.x I/O 的應用程序，例如伺服器、工作站、桌面、圖形、儲存、AI 和網卡應用程式。

全面支援捕捉 USB4 80Gb/s Gen 4 (PAM3)、Gen 3、Gen 2，以及傳統 USB 和電源傳輸，以查看端對端主機、集線器和裝置操作。

交鑰匙設備使用戶能夠測試其 CFexpress A 型和 B 型媒體卡是否符合 CFA VPG-5 合規性。

我們的工程師幫助開發了一些行業的關鍵技術，並繼續對改進產品和分享他們的知識充滿熱情。這種經驗和熱情可以轉化為最高質量的測試和培訓服務。