主要功能
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具有 <3mm 空間分辨率的真正差分 TDR
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外形小巧，電池供電
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高達 15 GHz 的 S Parameters
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35 皮秒的上升時間
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高達50,000點長記憶
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新興串行數據標準測試
真差分時域反射計 (TDR)
大多數現代高速設計都是用差分傳輸線實現的。 使用真正的差分 TDR 可以簡化此類設計中信號完整性測量的設置。 在某些情況下，如果您想測量非屏蔽雙絞線電纜，接地連接可能難以連接或無法連接。 大多數時候，當您使用真正的差分 TDR 進行測量時，不需要接地連接，這使您可以靈活地使用沒有接地連接的 TDR 探頭。
快速 TDR 重複率
高達 10 MHz 的重複率 T3SP 系列比基於採樣示波器的傳統 TDR 儀器快 300 多倍。 為實現盡可能高的動態範圍，TDR 儀器需要採集數百個波形並進行平均。 更快的採樣率提供更快、更準確的測量結果。
全校準阻抗圖
所有 TDR 儀器中的參考阻抗都是相對的； 它們是通過將反射振幅與入射振幅進行比較而製成的。 使用完整的 OSLT 校準 T3SP 系列為時域和頻域的阻抗測量提供最佳精度。 使用四個校準標準（開路、短路、負載、直通） T3SP15D 在時域中，而不是使用 TDR 儀器中常見的簡單歸一化，為設置提供了大大改進的錯誤校正。 在時域中使用 OSLT 校準可避免阻抗圖中的不規則性，例如在 TDR 事件步驟之後發生的振鈴。
完全校準的 S Parameters
以太網或 USB 等許多現代標準要求您測量頻域內電纜和連接器的阻抗匹配。 這些是通常使用傳統 VNA 儀器進行的測量。 這 T3SPseries 提供高達 15 GHz 的完全校準差分 S 參數測量（T3SP15D) 使用 VNA 使用的相同 OSLT 校準標準。
即時電纜測試和長記憶
假設電纜是完美的是一個常見的錯誤。 除非您已經驗證了電纜的質量，否則即使是優質電纜也始終有可能存在一些可能導致測量偽影的缺陷。 這 T3SP 系列可立即顯示您的電纜質量，識別因損壞或缺陷而超出規格的部件。 SP 系列最多可以採集 50.000 個點，這讓您可以在長 DUT 上進行高分辨率的長 TDR 記錄捕獲。 此外，您還可以靈活地使用最長 10 m 的電纜將 TDR 重複率從 1 MHz 更改為 40MHz。
ESD保護
高頻測量設備對靜電放電 (ESD) 極為敏感，可能會對您的測量設備造成永久性損壞。 此外，許多實驗室都需要採取特殊預防措施來保護其電子設備免受 ESD 造成的任何損壞。 SP 系列通過提供更高程度的保護來避免這種情況的發生，從而減輕了這種風險。 每個 SP 系列型號都配備了基於高性能同軸射頻開關的 ESD 保護模塊。 其工作方式是，當設備未用於進行測量時，通過將設備射頻信號檢測器與輸入連接器隔離來保護射頻輸入電路。
測量阻抗、回波損耗和插入損耗
現代電子設計和未來串行數據標準中使用的高比特率很好地擴展到了微波領域。 例如，高速通用串行總線 (USB3.1) 通過雙絞線支持高達 10 GB/s 的傳輸速率。 由於信道分散，這些通過連接器和電纜的高比特率傳輸會導致相當大的失真。 為了將失真保持在可控水平，許多標準規定了電纜和連接器的阻抗、回波損耗和插入損耗。 這些測量值由 S 參數表示。 這 T3SP 系列提供高達 15 GHz 的完全校準差分 S 參數測量（T3SP15D). 這使您可以靈活地以各種格式（CSV、Matlab 和 Touchstone）存儲輸出文件，這些格式很容易在 SI-Studio、Matlab 或其他模擬程序等工具中輕鬆使用。
印刷電路板 (PCB) 上的受控阻抗跡線
由於高速數字系統中時鐘速率的增加，控制阻抗 PCB 的必要性正在迅速增長。 此外，電纜和連接器必須符合高頻設計規範和受控阻抗規範。 這 T3SP 系列可幫助您非常準確和舒適地測量 PCB、電纜和連接器的波阻抗。 與市場上的其他系統相比， T3SP 系列專為測量 PCB 上的特定跡線和板上測試而設計，TDR 探頭可確保准確測量合格測試和調試組裝 PCB。