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WavePulser 40iX 高速互連分析儀通過單次採集提供對頻域和時域無與倫比的表徵洞察力。
在一次採集中獲得信號路徑的完整特性：
精確定位電路中的損耗：
WavePulser 40iX 軟件通過其深度工具箱提供互連和電路的輕鬆分析和建模：
WavePulser 40iX 高速互連分析儀是高速硬體設計人員和測試工程師理想的單一測量工具，具有網路分析儀 (VNA) 和時域反射儀 (TDR) 所缺乏的所有特性和功能。 進行一次採集，然後在頻域和時域中進行測量。
WavePulser 40iX 驗證、除錯和解決串列數據電纜、通道、連接器、導通孔、背板、印刷電路板以及晶片和 SoC 封裝中的互連問題。 它易於設定和使用。 它以一小部分價格提供與網路分析儀相同的結果。
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WavePulser 40iX 校準標準是內建的，因此校準始終是自動、簡單和快速的。 與需要購買額外的外部校準標準的網路分析儀相比，外部校準需要手動連接進行。 基於 TDR/TDT 的方法也獨立於設定內，從而降低了需要校準頻率。
WavePulser 40iX 提供時域反射計 (TDR) 階躍響應和時間控制和/或仿真物理層響應，無需外推至直流和低頻 - 是高速串列數據互連分析的理想選擇。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀通過一次採集測量單端和混合模式 S 參數。 無需重新獲取新數據即可更改設置並重新計算結果。
一次採集顯示所有測量結果：所有端口的混合模式回波和插入損耗； 差模和共模測量； 直流頻率響應。 圖形化用戶界面使閱讀結果變得簡單明瞭。
一個簡單的設置要求您只輸入單端採集的頻率和端口數。 選擇針對準確性或速度或介於兩者之間進行優化的測試時間。 在軟體中重新配置端口，而無需重新連接到 DUT。 在 Touchstone 文件中重新排序 S 參數。
內部電子校準能夠更快開始進行測量並更有信心地進行測量。 順從性、相互性和因果關係等功能的執行可確保更高的 S 參數測量精度。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀以 < 1 mm 的空間分辨率測量阻抗曲線。
WavePulser 40iX 支持差模阻抗曲線和混合模式測量，並可同時顯示多種模式。 還可以查看階躍響應、脈衝響應和反射係數。
使用阻抗曲線來檢測和定位高速串行數據互連中的常見問題：連接器擰緊不當； 電纜損壞； 電纜彎曲半徑不正確； 傳輸線上有缺陷的過孔； 其他輸電線路異常情況。
阻抗曲線檢測並定位測量設置中的損傷，而不僅僅是 DUT 上的損傷，從而幫助您更高效地工作。 了解何時需要重複校準，何時不需要。
WavePulser 40iX 高速互連分析儀可以與 SI Studio™ 整套購買（WavePulser-40iX-BUNDLE)，一個專為了解高速串列數據互連特性而訂制的深度分析工具箱。
從結果中消除電纜和連接器的影響。 通過端口擴展或阻抗剝離算法設置門控，並在有或沒有門控區域的情況下保存 S 參數。 使用建模或測量的 S 參數反嵌串行數據通道。
導入或模擬波形並使用 S 參數對損耗進行模式建構。 使用直觀的串列數據眼圖快速查看損耗的影響。 查看de-embedding和等化對眼圖的影響。 支持 PLL、預加重、去加重、CTLE、FFE 和 DFE。
測量總 (Tj)、隨機 (Rj) 和確定性 (Dj) 抖動。 將 Dj 反捲積成組成部分。 在頻譜、直方圖、抖動軌跡、眼圖和其他圖中查看抖動。